|
ČESKÁ NORMA |
|
|
|
Květen 1994 |
|
DISKRÉTNÍ |
ČSN 35 8797 |
|
|
|
|
Semiconductor discrete devices and integrated circuits. Part 7: Bipolar transistors
Dispositifs discrets et circuits intégrés a semiconducteurs. Septième partie: Transistors bipolaires
Einzelhalbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen. Teil 7: Bipolare Transistoren
Tato norma obsahuje IEC 747-7:1988 a její změnu č. 1:1991
Citované normy
IEC 747-1 Zavedena v ČSN 35 8797-1 Polovodičové součástky. Diskrétní součástky a integrované obvody. Část 1: Všeobecně (idt IEC 747-1/QC 700 000 : 1984)
Další souvisící normy
IEC 747-10 Zavedena v ČSN 35 8797-10 Diskrétní součástky a integrované obvody. Část 10: Kmenová norma (idt IEC 747-10/QC 700 000 : 1984)
IEC 747-11 Zavedena v ČSN 35 8797-11 Polovodičové součástky. Část 11: Dílčí norma pro diskrétní součástky (idt IEC 747-11/QC 750 000 : 1985)
Obdobné mezinárodní normy
IEC 747-7:1988 Semiconductor discrete devices and integrated circuits. Part 7: Bipolar transistors (Diskrétní polovodičové součástky a integrované obvody. Část 7: Bipolární tranzistory)
Nahrazení předchozích norem
Viz Příloha A.
Vypracování normy
Zpracovatel: ČKD Polovodiče, a. s., IČO 565 547, Ing. Tomislav Utěšil
Pracovník Českého normalizačního institutu: Ing. Marie Živcová
Ó Český normalizační institut, 1993
|
|
|
15563 |
|
DISKRÉTNÍ POLOVODIČOVÉ SOUČÁSTKY |
IEC 747-7 |
|
A INTEGROVANÉ OBVODY |
První vydání |
|
Část 7: Bipolární tranzistory |
1988 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
MDT 621.382.33.001.4
Obsah |
|
strana |
|
|
|
|
Předmluva |
3 |
|
Úvodní ustanovení |
4 |
|
Přehled odkazů |
4 |
|
|
|
|
KAPITOLA I: VŠEOBECNĚ |
|
1 |
Úvodní poznámka |
5 |
2 |
Rozsah |
5 |
3 |
Písmenné značky |
5 |
|
|
|
|
KAPITOLA II: NÁZVOSLOVÍ A PÍSMEMNÉ ZNAČKY |
|
1 |
Typy tranzistorů |
6 |
2 |
Základní názvy |
6 |
3 |
Zapojení obvodů |
7 |
4 |
Názvy mezních hodnot a charakteristických parametrů |
7 |
5 |
s-parametry |
10 |
6 |
Písmenné značky |
15 |
6.1 |
Písmenné značky pro proudy, napětí a výkony |
15 |
6.2 |
Písmenné značky pro elektrické parametry |
15 |
6.3 |
Písmenné značky pro další veličiny |
15 |
6.4 |
Seznam písmenných značek |
15 |
|
|
|
|
KAPITOLA III: ZÁKLADNÍ MEZNÍ HODNOTY A CHARAKTERISTICKĚ PARAMETRY |
|
|
Oddíl první - Nízkovýkonové tranzistory |
25 |
|
(s výjimkou spínacích aplikací) |
|
1 |
Všeobecně |
25 |
2 |
Mezní hodnoty |
26 |
3 |
Charakteristické parametry |
26 |
4 |
Údaje pro použití (připravuje se) |
30 |
|
|
|
|
Oddíl druhý - Výkonové tranzistory |
30 |
|
(kromě spínacích a vysokofrekvenčních) |
|
1 |
Všeobecně |
30 |
2 |
Mezní hodnoty |
30 |
3 |
Charakteristické parametry |
31 |
4 |
Údaje pro použití |
31 |
|
|
|
|
Oddíl třetí - Vysokofrekvenční výkonové tranzistory pro zesilovače a oscilátory |
32 |
1 |
Typ |
32 |
2 |
Polovodičový materiál |
32 |
3 |
Polarita |
32 |
4 |
Rozměry |
32 |
5 |
Mezní hodnoty (systém absolutních maximálních hodnot), v celém rozsahu provozních teplot, pokud není uvedeno jinak |
32 |
6 |
Charakteristické parametry |
34 |
7 |
Dodatečné informace |
36 |
8 |
Informace o klimatických zkouškách a/nebo zkouškách trvanlivosti (připravuje se) |
36 |
|
Oddíl čtvrtý - Spínací tranzistory |
37 |
1 |
Všeobecně |
37 |
2 |
Mezní hodnoty |
38 |
3 |
Charakteristické parametry |
38 |
4 |
Údaje pro použití (připravuje se) |
39 |
|
|
|
|
KAPITOLA IV: VŠEOBECNĚ A REFERENČNÍ MĚŘICÍ METODY |
|
|
Oddíl první - Všeobecné měřicí metody |
|
1 |
Všeobecně |
40 |
2 |
Zbytkové proudy kolektor-báze (I CBO) a emitor-báze (I EBO) (stejnosměrná metoda) |
40 |
3 |
Zbytkové proudy kolektor-emitor (stejnosměrná metoda) (I CEO, I CER, I CEX, I CES) |
40 |
4 |
Saturační napětí kolektor-emitor (U CEsat) |
41 |
5 |
Saturační napětí báze-emitor (U BEsat) |
42 |
6 |
Napětí báze-emitor (stejnosměrná metoda) (U BE) |
43 |
7 |
Udržovací napětí kolektor-emitor (U CEO(sus), U CER(sus)) |
44 |
8 |
Kapacity |
45 |
8.1 |
Výstupní kapacita v zapojení se společnou bází (C 22b nebo C ob) |
45 |
8.2 |
Kapacita kolektor-báze (C cb) |
47 |
9 |
Hybridní parametry (malý signál a velký signál) |
48 |
10 |
Mezní hodnoty napětí a měřitelné charakteristické parametry, omezující provozní napětí (U (BR)CBO, U (BR)EBO, I S/B) |
54 |
11 |
Tepelný odpor (Rth) |
56 |
12 |
Spínací doby (td, tr, ton, ts, tf, toff) |
63 |
13 |
Vysokofrekvenční parametry (f T, C 22b, Re h 11e, y, s) |
65 |
14 |
Šum (F) |
76 |
15 |
Měřicí metody pro sdružené dvojice bipolárních tranzistorů |
81 |
|
|
|
|
Oddíl druhý - Referenční měřicí metody |
83 |
1 |
Všeobecně |
83 |
2 |
Zbytkový proud kolektor-báze (I CBO) |
83 |
3 |
Zbytkový proud emitor-báze (I EBO) |
84 |
4 |
Saturační napětí kolektor-emitor (U CEsat) |
84 |
5 |
Saturační napětí báze-emitor (U CEsat) |
87 |
6 |
Propustné napětí báze-emitor (U BE) |
87 |
7 |
Statická hodnota proudového zesilovacího činitele v zapojení se společným emitorem (h 21E) |
88 |
8 |
Proudový zesilovací činitel nakrátko při malém signálu v zapojení se společným emitorem (h 21e) |
89 |
9 |
Spínací parametry (připravuje se) |
91 |
|
|
|
|
KAPITOLA V: PŘEJÍMKA A SPOLEHLIVOST |
|
|
Oddíl první - Zkoušky elektrické trvanlivosti |
91 |
1 |
Všeobecně |
91 |
2 |
Stanovené požadavky |
91 |
2.1 |
Přehled zkoušek trvanlivosti |
91 |
2.2 |
Podmínky pro zkoušky trvanlivosti |
91 |
2.3 |
Parametry definující poruchu součástky a kritéria poruch pro přejímací zkoušky |
91 |
2.4 |
Parametry definující poruchu součástky a kritéria poruch pro zkoušky spolehlivosti (připravuje se) |
91 |
2.5 |
Postup v případě chyby při zkoušení |
91 |
|
|
|
|
Tabulka 1 - Parametry definující poruchu součástky pro její přijatelnost po životnostních zkouškách |
93 |
|
Tabulka 2 - Podmínky pro životnostní zkoušky |
93 |
Předmluva
1. Oficiální rozhodnutí nebo dohody IEC tykající se technických otázek zpracovaných technickými komisemi, v nichž jsou zastoupeny všechny zainteresované národní komitéty, vyjadřují v největší možné míře mezinárodní shodu v názoru na předmět, kterého se týkají.
2. Mají formu doporučení pro mezinárodní použití a v tomto smyslu jsou přijímána národními komitéty.
3. Na podporu mezinárodního sjednocení vyjadřuje IEC přání, aby všechny národní komitéty převzaly text doporučení IEC do svých národních předpisů v rozsahu, který národní komitéty dovolují. Jakýkoliv rozdíl mezi doporučením IEC a odpovídajícím národním předpisem by měl být pokud možno v národním předpise jasně vyznačen.
-- Vynechaný text --
Zdroj: www.cni.cz