Zdroj: www.cni.cz
ČESKÁ NORMA |
|
|
Srpen 1994 |
Polovodičové součástky |
ČSN 35 8798 |
|
|
|
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits
Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Deuxième partie: Circuits intégrés digitaux
Halbleiterbauelemente. Integrierte Schaltungen. Teil 2: Integrierte Digitalschaltungen
Tato norma obsahuje IEC 748-2:1985 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 2: Číslicové integrované obvody, a její změnu č. 1:1991.
Tato norma je přeložena z anglického znění bez redakčních změn. V případě, že by vznikl spor o výklad, použije se původní anglické znění normy.
Norma platí pro certifikaci v rámci Systémů IEC.
This standard contains IEC Publication 748-2:1985 Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits, and its Amendment No. 1:1991.
This standard is translated from the English version without editorial changes. In all cases if interpretation disputes, the English version applies.
This standard applies for certification within IEC Systems.
Národní předmluva
Citované normy
IEC 747-1:1983 zavedena v ČSN 35 8797 část 1 Polovodičové součástky. Diskrétní součástky a integrované obvody. Část 1: Všeobecná ustanovení (idt IEC 747-1:1983)
IEC 748-1:1984 zavedena v ČSN IEC 748-1 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 1: Všeobecná ustanovení. ( 35 8798)
Obdobné mezinárodní, regionální a zahraniční normy
DIN IEC 748 Teil 2: Halbleiterbauelemente. Integrierte Schaltungen. Teil 2: Integrierte Digitalschaltungen. (idt IEC 748-2:1985) (Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 2: Číslicové integrované obvody)
UTE C 96-042: Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Deuxième partie: Circuits intégrés digitaux. (idt CEI 748-2:1985) (Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 2: Číslicové integrované obvody)
BS 6493: Section 2.2:1986: Semiconductor devices. Integrated circuits. Recommendations for digital integrated circuits. (idt IEC 748-2:1985) (Polovodičové součástky. Integrované obvody. Ustanovení pro číslicové integrované obvody)
Ó Český normalizační institut, 1994
|
|
16444 |
Nahrazení předchozích norem
Touto normou se nahrazuje ČSN 35 8790 z 6. 7. 1983 a ČSN 35 8792 z 5. 12. 1985. Tímto obě ČSN pozbývají platnost v celém rozsahu.
Vypracování normy
Zpracovatel: SVAS a. s., Rožnov pod Radhoštěm, IČO 15503496 - Ing. Dagmar Balášová, Ing.Václav Sehnalík
Národní dohlížecí inspektorát: Elektrotechnický zkušební ústav, Praha, IČO 001 481
Pracovník Českého normalizačního institutu: Ing. Jan Vondráček
Polovodičové součástky |
IEC 748-2 |
INTEGROVANÉ OBVODY |
První vydání |
Část 2: Číslicové integrované obvody |
1985 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Obsah |
|
strana |
|
|
|
|
Předmluva |
7 |
|
Úvodní ustanovení |
7 |
|
Přehled odkazů |
9 |
|
|
|
|
KAPITOLA I: VŠEOBECNĚ |
|
1 |
Úvodní poznámka |
11 |
2 |
Předmět normy |
11 |
|
|
|
|
KAPITOLA II: TERMINOLOGIE A PÍSMENNÉ ZNAČKY |
|
1 |
Terminologie kombinačních a sekvenčních integrovaných obvodů |
11 |
1.1 |
Všeobecné názvy |
11 |
1.2 |
Názvy týkající se funkcí |
12 |
1.3 |
Typy obvodů |
15 |
1.4 |
Názvy mezních a charakteristických hodnot |
18 |
1.5 |
Pojem zavření (latch up) |
20 |
2 |
Příklady |
21 |
3 |
Terminologie pamětí |
34 |
3.1 |
Všeobecné názvy |
34 |
3.2 |
Obecné názvy týkající se funkce a organizace paměti |
35 |
3.3 |
Typy pamětí |
36 |
3.4 |
Názvy mezních a charakteristických hodnot |
37 |
3.5 |
Typické tvary signálu u statických pamětí pro čtení a zápis |
39 |
3.6 |
Názvy a popisy zkušebních obrazců pro zkoušení pamětí |
42 |
4 |
Terminologie mikroprocesorů |
49 |
5 |
Terminologie součástek s přenosem náboje |
49 |
6 |
Písmenné značky pro kombinační a sekvenční integrované obvody |
54 |
7 |
Písmenné značky pro dynamické parametry sekvenčních integrovaných obvodů včetně pamětí |
54 |
8 |
Další názvy a definice pro číslicové integrované obvody |
66 |
|
|
|
|
KAPITOLA III: ZÁKLADNÍ MEZNÍ A CHARAKTERISTICKÉ HODNOTY |
|
|
ODDÍL PRVNÍ - ČÍSLICOVÉ INTEGROVANÉ OBVODY, OBECNĚ |
|
1 |
Identifikace a popis obvodu |
67 |
1.1 |
Označení a typ |
67 |
1.2 |
Technologie |
67 |
1.3 |
Identifikace pouzdra |
67 |
2 |
Funkční specifikace |
67 |
2.1 |
Blokové schéma |
67 |
2.2 |
Funkční popis |
68 |
2.3 |
Složené struktury |
68 |
3 |
Mezní hodnoty |
68 |
3.1 |
Stejnosměrná napětí a proudy |
68 |
3.2 |
Přechodně působící napětí a proudy |
69 |
3.3 |
Teploty |
69 |
3.4 |
Schopnost snést zkrat |
69 |
4 |
Doporučené provozní podmínky (ve stanoveném rozsahu provozních teplot) |
69 |
5 |
Statické elektrické parametry bipolárních integrovaných obvodů, obrázky 27 a 28 |
70 |
5.1 |
Základní parametry číslicových napěťových signálů |
70 |
5.2 |
Vstupní omezovací napětí (kde je to vhodné) |
71 |
5.3 |
Základní parametry vstupních a výstupních proudů |
71 |
5.4 |
Podmínky vyvolávající nejnepříznivější případ |
73 |
6 |
Statické a kvazistatické elektrické parametry integrovaných obvodů MOS |
74 |
6.1 |
Základní parametry číslicových napěťových signálů |
74 |
6.2 |
Základní charakteristické hodnoty proudů |
74 |
7 |
Dynamické elektrické parametry |
75 |
7.1 |
Úvod |
75 |
7.2 |
Doby charakterizující odezvu obvodu |
75 |
7.3 |
Požadavky na vstupy k zajištění správného sekvenčního provozu |
76 |
7.4 |
Vstupní a výstupní impedance |
78 |
8 |
Celkový výkon nebo proudy dodávané z napájecích zdrojů |
80 |
9 |
Celkový proud odebíraný z napájecích zdrojů (dynamický provoz) |
80 |
10 |
Informace o řídicích impulsech (kde to připadá v úvahu) |
80 |
11 |
Izolační odpor |
80 |
12 |
Mechanické mezní a charakteristické hodnoty a jiné údaje |
80 |
13 |
Doplňkové informace |
81 |
13.1 |
Zatěžovací činitel výstupu |
81 |
13.2 |
Šumová odolnost |
81 |
13.3 |
Vzájemná spojení číslicových integrovaných obvodů |
81 |
14 |
Manipulační opatření |
81 |
|
Příloha k prvnímu oddílu - Specifikace parametrů |
81 |
|
|
|
|
ODDÍL DRUHÝ - PAMĚTI |
|
|
A - Statické a dynamické paměti pro čtení a zápis a paměti jen pro čtení (ROM) |
|
1 |
Identifikace a popis obvodu |
82 |
2 |
Funkční specifikace |
82 |
2.1 |
Blokové schéma |
82 |
2.2 |
Funkční popis |
82 |
3 |
Mezní hodnoty |
83 |
4 |
Doporučené provozní podmínky (ve stanoveném rozsahu provozních teplot) |
83 |
5 |
Statické elektrické parametry bipolárních pamětí |
83 |
6 |
Statické elektrické parametry pamětí MOS |
83 |
7 |
Dynamické elektrické parametry |
83 |
7.1 |
Doby charakterizující odezvu obvodu |
84 |
7.2 |
Požadavky na vstupy k zajištění správného sekvenčního provozu |
85 |
7.3 |
Vstupní a výstupní kapacity |
89 |
8 |
Výkon nebo proud odebíraný z každého zdroje (statický provoz) |
89 |
9 |
Výkon nebo proud odebíraný z každého zdroje (dynamický provoz) |
89 |
10 |
Mechanické mezní a charakteristické hodnoty a jiné údaje |
89 |
11 |
Doplňkové informace |
89 |
11.1 |
Zatěžovací činitel výstupu |
89 |
11.2 |
Šumová odolnost |
89 |
11.3 |
Vzájemná spojení podobných jednotek |
89 |
11.4 |
Typ výstupního obvodu |
89 |
11.5 |
Propojení na jiné typy obvodů |
90 |
12 |
Manipulační opatření |
90 |
|
B - Uživatelem programovatelné paměti ROM |
|
1 |
Identifikace a popis obvodu |
90 |
2 |
Funkční specifikace |
90 |
2.1 |
Blokové schéma |
90 |
2.2 |
Identifikace vývodů |
90 |
2.3 |
Funkční popis |
91 |
3 |
Mezní hodnoty |
91 |
4 |
Režim čtení |
91 |
4.1 |
Doporučené provozní podmínky (ve stanoveném rozsahu provozních teplot) |
91 |
4.2 |
Statické elektrické parametry |
91 |
4.3 |
Dynamické elektrické parametry |
92 |
4.4 |
Časové požadavky |
92 |
5 |
Režim programování |
93 |
5.1 |
Postup programování |
93 |
5.2 |
Doporučené podmínky při programování |
93 |
5.3 |
Časové požadavky |
93 |
6 |
Režim mazání (připadá-li v úvahu) |
94 |
6.1 |
Elektricky mazatelné paměti |
94 |
6.2 |
Paměti mazatelné ultrafialovým světlem |
95 |
7 |
Počet cyklů programování - mazání |
95 |
8 |
Informace o uchování dat |
95 |
9 |
Výkon nebo proud odebíraný z každého zdroje (statický provoz) |
95 |
10 |
Výkon nebo proud odebíraný z každého zdroje (dynamický provoz) |
95 |
11 |
Mechanické mezní a charakteristické hodnoty a jiné údaje |
95 |
12 |
Doplňkové informace |
96 |
12.1 |
Zatěžovací činitel výstupu |
96 |
12.2 |
Elektrická šumová odolnost |
96 |
12.3 |
Vzájemná spojení podobných jednotek |
96 |
12.4 |
Typ výstupního obvodu |
96 |
12.5 |
Propojení na jiné typy obvodů |
96 |
13 |
Manipulační opatření |
96 |
|
|
|
|
ODDÍL TŘETÍ - MIKROPROCESORY |
|
1 |
Identifikace a popis obvodu |
96 |
1.4 |
Elektrická slučitelnost |
96 |
2 |
Funkční specifikace |
97 |
2.1 |
Blokové schéma |
97 |
2.2 |
Funkční popis |
97 |
2.3 |
Soubor instrukcí |
97 |
2.4 |
Uspořádání instrukcí |
98 |
2.5 |
Vstupní a výstupní signály |
98 |
3 |
Mezní hodnoty |
98 |
3.1 |
Elektrické mezní hodnoty |
99 |
3.2 |
Teploty |
99 |
3.3 |
Ztrátový výkon |
99 |
4 |
Doporučené provozní podmínky (ve stanoveném rozsahu provozních teplot) |
99 |
4.1 |
Napájecí napětí |
99 |
4.2 |
Hodinové vstupy |
99 |
4.3 |
Vstupní napětí (mimo hodinové vstupy) |
99 |
4.4 |
Výstupní proudy |
100 |
4.5 |
Vnější prvky (kde to připadá v úvahu) |
100 |
4.6 |
Doby předstihu a přesahu |
100 |
4.7 |
Časovací diagramy pro sledy řídících signálů |
100 |
5 |
Elektrické parametry |
100 |
5.1 |
Statické parametry |
100 |
5.2 |
Dynamické parametry |
100 |
6 |
Mechanické mezní a charakteristické hodnoty a jiné údaje |
101 |
7 |
Doplňkové informace |
102 |
7.1 |
Zatěžovací činitel výstupu |
102 |
7.2 |
Šumová odolnost |
102 |
7.3 |
Aplikační údaje |
103 |
7.4 |
Další informace |
103 |
8 |
Manipulační opatření |
103 |
|
|
|
|
KAPITOLA IV: METODY MĚŘENÍ |
|
|
ODDÍL PRVNÍ - VŠEOBECNĚ |
|
1 |
Základní požadavky |
103 |
2 |
Specifické požadavky |
103 |
2.1 |
Všeobecné požadavky na statická a dynamická měření |
103 |
2.2 |
Podmínky stanovené pro statické parametry |
104 |
2.3 |
Podmínky stanovené pro dynamické parametry |
104 |
3 |
Aplikační tabulka pro metody měření |
104 |
|
|
|
|
ODDÍL DRUHÝ - METODY MĚŘENÍ STATICKÝCH PARAMETRŮ |
|
1 |
Výstupní napětí při vysoké a nízké úrovni (UOH a UOL) [37] |
106 |
2 |
Vstupní proudy při vysoké a nízké úrovni (IIH a IIL) [38] |
107 |
3 |
Výstupní proud nakrátko (IOS) [40] |
108 |
4 |
Napájecí proud při statických podmínkách [41] |
109 |
5 |
(Vstupní) prahová napětí a hysterezní napětí [48] |
110 |
|
|
|
|
ODDÍL TŘETÍ - DYNAMICKÁ MĚŘENÍ |
|
1 |
Celkový proud dodávaný z napájecích zdrojů při dynamických podmínkách [1] |
112 |
2 |
Výkon dodávaný po vedeních hodinových impulsů [2] |
114 |
3 |
Vstupní a výstupní impedance [6], [11] |
115 |
3.1 |
Měření proudu: vstupní a výstupní kapacity při provozu s velkými signály [6] |
115 |
3.2 |
Měření napětí: ekvivalentní vstupní a výstupní kapacity, ekvivalentní vstupní a výstupní odpory [11] |
117 |
4 |
Doby charakterizující obvod |
121 |
4.1 |
Doby šíření [3], [7] |
121 |
4.2 |
Doby zpoždění a přechodu [4], [5] |
125 |
4.3 |
Doba předstihu [8] a doba přesahu [9] |
128 |
4.4 |
Rozlišovací doba [36] |
131 |
4.5 |
Doby vybavení a zablokování výstupu (pro třístavové výstupy) [49] |
132 |
4.6 |
Doby specifické pro paměti [50] až [54] |
135 |
5 |
Spínací kmitočet sekvenčního obvodu [10] |
139 |
6 |
Metoda ověřování funkce číslicového integrovaného obvodu |
141 |
|
|
|
|
KAPITOLA V: PŘEJÍMKA A SPOLEHLIVOST |
|
|
ODDÍL PRVNÍ - ZKOUŠKY ELEKTRICKÉ TRVANLIVOSTI |
|
1 |
Všeobecné požadavky |
142 |
2 |
Specifické požadavky |
143 |
|
Tabulka 2 |
144 |
Předmluva
1) Oficiální rozhodnutí nebo dohody IEC týkající se technických otázek zpracovaných technickými komisemi, v nichž jsou zastoupeny všechny zainteresované národní komitéty, vyjadřují v největší možné míře mezinárodní shodu názorů na předmět, kterého se týkají.
2) Mají formu doporučení pro mezinárodní použití a v tomto smyslu jsou přijímána národními komitéty.
3) Na podporu mezinárodního sjednocení vyjadřuje IEC přání, aby všechny národní komitéty převzaly text doporučení IEC do svých národních předpisů v rozsahu, který národní podmínky dovolují. Jakýkoliv rozdíl mezi doporučením IEC a odpovídajícím národním předpisem by měl být pokud možno v národním předpise jasně vyznačen.
Zdroj: www.cni.cz