Zdroj: www.cni.cz

ČESKÁ NORMA

MDT 621.382

Srpen 1994

Polovodičové součástky
INTEGROVANÉ OBVODY
Část 2: Číslicové integrované obvody

ČSN
IEC 748-2

35 8798

 

 

 

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits

Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Deuxième partie: Circuits intégrés digitaux

Halbleiterbauelemente. Integrierte Schaltungen. Teil 2: Integrierte Digitalschaltungen

 

Tato norma obsahuje IEC 748-2:1985 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 2: Číslicové integrované obvody, a její změnu č. 1:1991.

 

Tato norma je přeložena z anglického znění bez redakčních změn. V případě, že by vznikl spor o výklad, použije se původní anglické znění normy.

 

Norma platí pro certifikaci v rámci Systémů IEC.

 

This standard contains IEC Publication 748-2:1985 Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits, and its Amendment No. 1:1991.

 

This standard is translated from the English version without editorial changes. In all cases if interpretation disputes, the English version applies.

 

This standard applies for certification within IEC Systems.

 

Národní předmluva

 

Citované normy

IEC 747-1:1983 zavedena v ČSN 35 8797 část 1 Polovodičové součástky. Diskrétní součástky a integrované obvody. Část 1: Všeobecná ustanovení (idt IEC 747-1:1983)

IEC 748-1:1984 zavedena v ČSN IEC 748-1 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 1: Všeobecná ustanovení. ( 35 8798)

 

Obdobné mezinárodní, regionální a zahraniční normy

DIN IEC 748 Teil 2: Halbleiterbauelemente. Integrierte Schaltungen. Teil 2: Integrierte Digitalschaltungen. (idt IEC 748-2:1985) (Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 2: Číslicové integrované obvody)

UTE C 96-042: Dispositifs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Deuxième partie: Circuits intégrés digitaux. (idt CEI 748-2:1985) (Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 2: Číslicové integrované obvody)

BS 6493: Section 2.2:1986: Semiconductor devices. Integrated circuits. Recommendations for digital integrated circuits. (idt IEC 748-2:1985) (Polovodičové součástky. Integrované obvody. Ustanovení pro číslicové integrované obvody)

 

Ó Český normalizační institut, 1994




16444


Strana 2

Nahrazení předchozích norem

Touto normou se nahrazuje ČSN 35 8790 z 6. 7. 1983 a ČSN 35 8792 z 5. 12. 1985. Tímto obě ČSN pozbývají platnost v celém rozsahu.

 

Vypracování normy

Zpracovatel: SVAS a. s., Rožnov pod Radhoštěm, IČO 15503496 - Ing. Dagmar Balášová, Ing.Václav Sehnalík

Národní dohlížecí inspektorát: Elektrotechnický zkušební ústav, Praha, IČO 001 481

Pracovník Českého normalizačního institutu: Ing. Jan Vondráček


Strana 3

Polovodičové součástky

IEC 748-2

INTEGROVANÉ OBVODY

První vydání

Část 2: Číslicové integrované obvody

1985


 

Obsah

 

strana

 

 

 

Předmluva

7

Úvodní ustanovení

7

Přehled odkazů

9

 

 

 

KAPITOLA I: VŠEOBECNĚ

1

Úvodní poznámka

11

2

Předmět normy

11

 

 

 

KAPITOLA II: TERMINOLOGIE A PÍSMENNÉ ZNAČKY

1

Terminologie kombinačních a sekvenčních integrovaných obvodů

11

1.1

Všeobecné názvy

11

1.2

Názvy týkající se funkcí

12

1.3

Typy obvodů

15

1.4

Názvy mezních a charakteristických hodnot

18

1.5

Pojem zavření (latch up)

20

2

Příklady

21

3

Terminologie pamětí

34

3.1

Všeobecné názvy

34

3.2

Obecné názvy týkající se funkce a organizace paměti

35

3.3

Typy pamětí

36

3.4

Názvy mezních a charakteristických hodnot

37

3.5

Typické tvary signálu u statických pamětí pro čtení a zápis

39

3.6

Názvy a popisy zkušebních obrazců pro zkoušení pamětí

42

4

Terminologie mikroprocesorů

49

5

Terminologie součástek s přenosem náboje

49

6

Písmenné značky pro kombinační a sekvenční integrované obvody

54

7

Písmenné značky pro dynamické parametry sekvenčních integrovaných obvodů včetně pamětí

54

8

Další názvy a definice pro číslicové integrované obvody

66

 

 

 

KAPITOLA III: ZÁKLADNÍ MEZNÍ A CHARAKTERISTICKÉ HODNOTY

ODDÍL PRVNÍ - ČÍSLICOVÉ INTEGROVANÉ OBVODY, OBECNĚ

1

Identifikace a popis obvodu

67

1.1

Označení a typ

67

1.2

Technologie

67

1.3

Identifikace pouzdra

67

2

Funkční specifikace

67

2.1

Blokové schéma

67

2.2

Funkční popis

68

2.3

Složené struktury

68


Strana 4

3

Mezní hodnoty

68

3.1

Stejnosměrná napětí a proudy

68

3.2

Přechodně působící napětí a proudy

69

3.3

Teploty

69

3.4

Schopnost snést zkrat

69

4

Doporučené provozní podmínky (ve stanoveném rozsahu provozních teplot)

69

5

Statické elektrické parametry bipolárních integrovaných obvodů, obrázky 27 a 28

70

5.1

Základní parametry číslicových napěťových signálů

70

5.2

Vstupní omezovací napětí (kde je to vhodné)

71

5.3

Základní parametry vstupních a výstupních proudů

71

5.4

Podmínky vyvolávající nejnepříznivější případ

73

6

Statické a kvazistatické elektrické parametry integrovaných obvodů MOS

74

6.1

Základní parametry číslicových napěťových signálů

74

6.2

Základní charakteristické hodnoty proudů

74

7

Dynamické elektrické parametry

75

7.1

Úvod

75

7.2

Doby charakterizující odezvu obvodu

75

7.3

Požadavky na vstupy k zajištění správného sekvenčního provozu

76

7.4

Vstupní a výstupní impedance

78

8

Celkový výkon nebo proudy dodávané z napájecích zdrojů

80

9

Celkový proud odebíraný z napájecích zdrojů (dynamický provoz)

80

10

Informace o řídicích impulsech (kde to připadá v úvahu)

80

11

Izolační odpor

80

12

Mechanické mezní a charakteristické hodnoty a jiné údaje

80

13

Doplňkové informace

81

13.1

Zatěžovací činitel výstupu

81

13.2

Šumová odolnost

81

13.3

Vzájemná spojení číslicových integrovaných obvodů

81

14

Manipulační opatření

81

Příloha k prvnímu oddílu - Specifikace parametrů

81

 

 

 

ODDÍL DRUHÝ - PAMĚTI

A - Statické a dynamické paměti pro čtení a zápis a paměti jen pro čtení (ROM)

1

Identifikace a popis obvodu

82

2

Funkční specifikace

82

2.1

Blokové schéma

82

2.2

Funkční popis

82

3

Mezní hodnoty

83

4

Doporučené provozní podmínky (ve stanoveném rozsahu provozních teplot)

83

5

Statické elektrické parametry bipolárních pamětí

83

6

Statické elektrické parametry pamětí MOS

83

7

Dynamické elektrické parametry

83

7.1

Doby charakterizující odezvu obvodu

84

7.2

Požadavky na vstupy k zajištění správného sekvenčního provozu

85

7.3

Vstupní a výstupní kapacity

89

8

Výkon nebo proud odebíraný z každého zdroje (statický provoz)

89


Strana 5

9

Výkon nebo proud odebíraný z každého zdroje (dynamický provoz)

89

10

Mechanické mezní a charakteristické hodnoty a jiné údaje

89

11

Doplňkové informace

89

11.1

Zatěžovací činitel výstupu

89

11.2

Šumová odolnost

89

11.3

Vzájemná spojení podobných jednotek

89

11.4

Typ výstupního obvodu

89

11.5

Propojení na jiné typy obvodů

90

12

Manipulační opatření

90

B - Uživatelem programovatelné paměti ROM

1

Identifikace a popis obvodu

90

2

Funkční specifikace

90

2.1

Blokové schéma

90

2.2

Identifikace vývodů

90

2.3

Funkční popis

91

3

Mezní hodnoty

91

4

Režim čtení

91

4.1

Doporučené provozní podmínky (ve stanoveném rozsahu provozních teplot)

91

4.2

Statické elektrické parametry

91

4.3

Dynamické elektrické parametry

92

4.4

Časové požadavky

92

5

Režim programování

93

5.1

Postup programování

93

5.2

Doporučené podmínky při programování

93

5.3

Časové požadavky

93

6

Režim mazání (připadá-li v úvahu)

94

6.1

Elektricky mazatelné paměti

94

6.2

Paměti mazatelné ultrafialovým světlem

95

7

Počet cyklů programování - mazání

95

8

Informace o uchování dat

95

9

Výkon nebo proud odebíraný z každého zdroje (statický provoz)

95

10

Výkon nebo proud odebíraný z každého zdroje (dynamický provoz)

95

11

Mechanické mezní a charakteristické hodnoty a jiné údaje

95

12

Doplňkové informace

96

12.1

Zatěžovací činitel výstupu

96

12.2

Elektrická šumová odolnost

96

12.3

Vzájemná spojení podobných jednotek

96

12.4

Typ výstupního obvodu

96

12.5

Propojení na jiné typy obvodů

96

13

Manipulační opatření

96

 

 

 

ODDÍL TŘETÍ - MIKROPROCESORY

1

Identifikace a popis obvodu

96

1.4

Elektrická slučitelnost

96

2

Funkční specifikace

97

2.1

Blokové schéma

97

2.2

Funkční popis

97

2.3

Soubor instrukcí

97

2.4

Uspořádání instrukcí

98

2.5

Vstupní a výstupní signály

98


Strana 6

3

Mezní hodnoty

98

3.1

Elektrické mezní hodnoty

99

3.2

Teploty

99

3.3

Ztrátový výkon

99

4

Doporučené provozní podmínky (ve stanoveném rozsahu provozních teplot)

99

4.1

Napájecí napětí

99

4.2

Hodinové vstupy

99

4.3

Vstupní napětí (mimo hodinové vstupy)

99

4.4

Výstupní proudy

100

4.5

Vnější prvky (kde to připadá v úvahu)

100

4.6

Doby předstihu a přesahu

100

4.7

Časovací diagramy pro sledy řídících signálů

100

5

Elektrické parametry

100

5.1

Statické parametry

100

5.2

Dynamické parametry

100

6

Mechanické mezní a charakteristické hodnoty a jiné údaje

101

7

Doplňkové informace

102

7.1

Zatěžovací činitel výstupu

102

7.2

Šumová odolnost

102

7.3

Aplikační údaje

103

7.4

Další informace

103

8

Manipulační opatření

103

 

 

 

KAPITOLA IV: METODY MĚŘENÍ

ODDÍL PRVNÍ - VŠEOBECNĚ

1

Základní požadavky

103

2

Specifické požadavky

103

2.1

Všeobecné požadavky na statická a dynamická měření

103

2.2

Podmínky stanovené pro statické parametry

104

2.3

Podmínky stanovené pro dynamické parametry

104

3

Aplikační tabulka pro metody měření

104

 

 

 

ODDÍL DRUHÝ - METODY MĚŘENÍ STATICKÝCH PARAMETRŮ

1

Výstupní napětí při vysoké a nízké úrovni (UOH a UOL) [37]

106

2

Vstupní proudy při vysoké a nízké úrovni (IIH a IIL) [38]

107

3

Výstupní proud nakrátko (IOS) [40]

108

4

Napájecí proud při statických podmínkách [41]

109

5

(Vstupní) prahová napětí a hysterezní napětí [48]

110

 

 

 

ODDÍL TŘETÍ - DYNAMICKÁ MĚŘENÍ

1

Celkový proud dodávaný z napájecích zdrojů při dynamických podmínkách [1]

112

2

Výkon dodávaný po vedeních hodinových impulsů [2]

114

3

Vstupní a výstupní impedance [6], [11]

115

3.1

Měření proudu: vstupní a výstupní kapacity při provozu s velkými signály [6]

115

3.2

Měření napětí: ekvivalentní vstupní a výstupní kapacity, ekvivalentní vstupní a výstupní odpory [11]

117


Strana 7

4

Doby charakterizující obvod

121

4.1

Doby šíření [3], [7]

121

4.2

Doby zpoždění a přechodu [4], [5]

125

4.3

Doba předstihu [8] a doba přesahu [9]

128

4.4

Rozlišovací doba [36]

131

4.5

Doby vybavení a zablokování výstupu (pro třístavové výstupy) [49]

132

4.6

Doby specifické pro paměti [50] [54]

135

5

Spínací kmitočet sekvenčního obvodu [10]

139

6

Metoda ověřování funkce číslicového integrovaného obvodu

141

 

 

 

KAPITOLA V: PŘEJÍMKA A SPOLEHLIVOST

ODDÍL PRVNÍ - ZKOUŠKY ELEKTRICKÉ TRVANLIVOSTI

1

Všeobecné požadavky

142

2

Specifické požadavky

143

Tabulka 2

144

 

Předmluva

 

1) Oficiální rozhodnutí nebo dohody IEC týkající se technických otázek zpracovaných technickými komisemi, v nichž jsou zastoupeny všechny zainteresované národní komitéty, vyjadřují v největší možné míře mezinárodní shodu názorů na předmět, kterého se týkají.

2) Mají formu doporučení pro mezinárodní použití a v tomto smyslu jsou přijímána národními komitéty.

3) Na podporu mezinárodního sjednocení vyjadřuje IEC přání, aby všechny národní komitéty převzaly text doporučení IEC do svých národních předpisů v rozsahu, který národní podmínky dovolují. Jakýkoliv rozdíl mezi doporučením IEC a odpovídajícím národním předpisem by měl být pokud možno v národním předpise jasně vyznačen.

 



-- Vynechaný text --

Zdroj: www.cni.cz