IEC 747-11:1985 zavedena v ČSN 35 8797 část 11 Polovodičové součástky. Diskrétní součástky a integrované obvody. Část 11: Dílčí norma pro součástky diskrétní (idt IEC 747-11/ /QC 750000:1985)

IEC 748-1:1984 zavedena v ČSN IEC 748-1 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 1: Všeobecná ustanovení (idt IEC 748-1:1984) (35 8798)

IEC 748-2:1985 zavedena v ČSN IEC 748-2 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 2: Číslicové integrované obvody (idt IEC 748-2:1985) (35 8798)

IEC 748-3:1986 zavedena v ČSN IEC 748-3 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 3: Analogové integrované obvody (idt IEC 748-3:1986) (35 8798)

IEC 748-11:1990 zavedena v ČSN IEC 748-11 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 11: Dílčí specifikace pro polovodičové integrované obvody kromě hybridních obvodů (idt IEC 748-11:1990) (35 8798)

IEC 749:1984 zavedena v ČSN IEC 749 Polovodičové součástky. Mechanické a klimatické zkoušky (idt IEC 749:1984) (35 8799)

IEC QC 001002:1986 Jednací řád Systému pro určování jakosti součástek pro elektroniku (IECQ) - překlad ÚNMZ

ISO 1000:1981   zavedena v ČSN 01 1300 Zákonné měřicí jednotky

ISO 8601:1988 zavedena v ČSN EN 28601 Datové prvky a formáty výměny - Výměna informací - Reprezentace data a času (eqv ISO 8601:1988) (97 8601)

ISO 2859:1989   zavedena v ČSN ISO 2859  Statistické přejímky srovnáváním (01 0261)

Další souvisící normy

ČSN 35 8720 část 1  Polovodičové součástky. Vnější a připojovací rozměry

ČSN 35 8720 část 2: Integrované obvody. Základní rozměry

Obdobné mezinárodní, regionální a zahraniční normy

BS QC 700000:1991 Harmonized system of quality assessment for electric components. Generic specification for discrete devices and integrated circuits

Nahrazení předchozích norem

Touto normou se nahrazuje ČSN 35 8797 část 10 z 29.2.1988. Tímto tato norma pozbývá platnost v plném rozsahu. Zároveň se ruší ČSN 35 8730 z 7.10.81, ČSN 35 8801^*)z 6.3.79, ČSN 35 8802^*)z 6.3.79 a ČSN 35 8804 z 29.3.85

Porovnání s předchozím vydáním

Do druhého vydání této normy byl doplněn článek 3.10 Zrychlené zkušební postupy a článek 3.11 Schvalování způsobilosti.

Vypracování normy

Zpracovatel: SVAS, a. s., Rožnov pod Radhoštěm, IČO 15503496 - Ing. Dagmar Balášová

Národní dohlížecí inspektorát (NDI): Elektrotechnický zkušební ústav - SZ 201, IČO 001 481

Pracovník Českého normalizačního institutu: Ing.Jan Vondráček

-------

 ^*) Tyto normy budou převedeny do podnikových norem TESLA Sezam

Strana 3

---

POLOVODIČOVÉ SOUČÁSTKY.	IEC 747-10
Část 10: Kmenová specifikace	Druhé vydání
pro diskrétní součástky	1991
a integrované obvody

---

 

Obsah

strana

	Předmluva	4
	Úvodní ustanovení	4
	Článek
1	Předmět normy	5
2	Všeobecně	5
2.1	Pořadí priority	5
2.2	Souvisící dokumenty	6
2.3	Jednotky, značky a názvosloví	7
2.4	Přednostní hodnoty napětí, proudů a teplot	7
2.5	Značení	7
2.5.1	Identifikace vývodů	7
2.5.2	Typový znak	7
2.5.3	Označení výrobce nebo ochranná známka	8
2.5.4	Identifikační kód kontrolních dávek	8
2.6	Kategorie hodnocení jakosti	8
2.7	Třídění	8
2.8	Manipulace	8
3	Postupy při vyhodnocování jakosti	9
3.1	Podmínky pro kvalifikační schválení	9
3.1.1	Počáteční stadium výroby	9
3.2	Důvěrné obchodní informace	9
3.3	Vytváření kontrolních dávek	9
3.4	Strukturálně podobné součástky	9
3.5	Udělení kvalifikačního schválení	9
3.6	Kontrola shody jakosti	9
3.6.1	Rozdělení do skupin a podskupin	10
3.6.2	Kontrolní požadavky	11
3.6.3	Doplňkový postup pro zmírněnou kontrolu	12
3.6.4	Požadavky na výběr pro malé dávky	12
3.6.5	Ověřené protokoly o uvolněných dávkách (CRRL)	13
3.6.6	Dodávka součástek, které prošly destruktivními nebo nedestruktivními zkouškami	13
3.6.7	Opožděné dodávky	13
3.6.8	Doplňkový postup pro dodávky	13
3.7	Postupy při statistických výběrech	13
3.7.1	Výběrové plány AQL (Přijatelná úroveň jakosti)	13
3.7.2	Výběrové plány pro nepřípustné procento vadných v dávce (LTPD)	13
3.7.3	Vztah mezi výběrovými plány AQL a LTPD	13
3.8	Zkoušky trvanlivosti při stanoveném LTPD	14
3.9	Zkoušky trvanlivosti při stanovené intenzitě poruch	14
3.9.1	Všeobecná ustanovení	14
3.9.2	Výběr vzorků	14
3.9.3	Poruchy	14
3.9.4	Délka zkoušky trvanlivosti a velikost výběru	14
3.9.5	Postup v případě, že je počet zjištěných poruch větší než přejímací číslo	14

Strana 4

---

3.10	Zrychlené zkušební postupy	15
3.10.1	Požadavky na vhodnost použití zrychlené zkoušky při periodických zkouškách	15
3.10.2	Postup při zkoušení teplotně zrychlené elektrické trvanlivosti	15
3.10.3	Vlhké teplo (připravuje se)	17
3.10.4	Napětí (připravuje se)	17
3.11	Schválení způsobilosti	17
3.11.1	Všeobecná ustanovení	17
3.11.2	Názvy a definice	18
3.11.3	Postup pro udělování schválení způsobilosti	19
3.11.4	Postup pro zachování platnosti schválení způsobilosti	20
3.11.5	Postup pro omezení, rozšíření nebo změnu schválení způsobilosti	20
3.11.6	Postup pro udržení platnosti schválení způsobilosti v případě zjištění nedostatku	20
3.11.7	Příručka způsobilosti	20
3.11.8	Program zkoušek způsobilosti	23
3.11.9	Ověřování schválení způsobilosti (audit jakosti)	24
3.11.10	Zajištění jakosti výrobků dodávaných při schvalování způsobilosti	25
3.11.11	Značení a informace pro objednávání	26
3.11.12	Stručný výtah z příručky způsobilosti za účelem publikování	26
3.11.13	Předmětové specifikace pro zákaznické součástky	26
3.11.14	Předmětové specifikace pro katalogové výrobky	26
3.11.15	Seznam předmětových specifikací	27
4	Postupy při měření a zkoušení	27
4.1	Normální klimatické podmínky při elektrických a optických měřeních	27
4.2	Fyzická prověrka	27
4.2.1	Vizuální kontrola	27
4.2.2	Rozměry	27
4.2.3	Trvanlivost značení	27
4.3	Elektrická a optická měření	28
4.3.1	Všeobecné podmínky a opatření	28
4.4	Klimatické a mechanické zkoušky	28
	Příloha A - Výběrové plány podle nepřípustného procenta vadných (LTPD)	29
	Tabulka A-1: Výběrové plány LTPD	31
	Tabulka A-2: Hypergeometrické výběrové plány pro malé dávky (200 součástek a méně)	32
	Tabulka A-3: Výběrové plány AQL a LTPD	33
	Příloha B - Kontrolované rozměry	34
	Příloha C - Směry sil působících při mechanických zkouškách	36

 

Předmluva

 

1) Oficiální rozhodnutí nebo dohody IEC, týkající se technických otázek zpracovaných technickými komisemi, v nichž jsou zastoupeny všechny zainteresované národní komitéty, vyjadřují v největší možné míře mezinárodní shodu v názoru na předmět, kterého se týkají.

 

2) Mají formu doporučení pro mezinárodní použití a v tomto smyslu jsou přejímána národními komitéty.

 

3) Na podporu mezinárodního sjednocení vyjadřuje IEC přání, aby všechny národní komitéty převzaly text doporučení IEC do svých národních předpisů v rozsahu, který národní podmínky dovolují. Jakýkoliv rozdíl mezi doporučením IEC a odpovídajícím národním předpisem by měl být pokud možno v národním předpise jasně vyznačen.

 

Úvodní ustanovení

Tato norma byla vypracována technickou komisí IEC TC 47 Polovodičové součástky.

Toto druhé vydání IEC 747-10 nahrazuje první vydání z roku 1984.

Strana 5

---

Tato norma je kmenovou specifikací pro polovodičové součástky: diskrétní součástky a integrované obvody (s výjimkou hybridních obvodů) v rámci Systému IEC pro určování jakosti součástek pro elektroniku (IECQ).

Text této normy vychází z těchto dokumentů:

 

 

Úplné informace o hlasování jsou uvedeny ve zprávách o hlasování ve výše uvedené tabulce.

Číslo QC, uvedené na přední straně této normy, je číslo specifikace v Systému IEC pro určování jakosti součástek pro elektroniku (IECQ).

 

1  Předmět normy

 

Tato norma tvoří součást Systému IEC pro určování jakosti součástek pro elektroniku (IECQ).

Tato norma je kmenovou specifikací pro polovodičové součástky: diskrétní součástky a integrované obvody včetně mnohočipových integrovaných obvodů, ale mimo hybridní obvody.

 

Definuje obecné postupy pro vyhodnocování jakosti, používané v systému IECQ a udává všeobecná pravidla pro:

- metody měření elektrických parametrů;

- klimatické a mechanické zkoušky;

- zkoušky trvanlivosti.

 

POZNÁMKA - Tato norma musí být doplněna schválenými dílčími, rodovými a vzorovými předmětovými specifikacemi, tam kde existují, vhodnými pro určité jednotlivé typy součástek.

 

---

-- Vynechaný text --

Zdroj: www.cni.cz