Zdroj: www.cni.cz

ICS 31. 200                                                 ČESKÁ NORMA                                              Říjen 1996

Polovodičové součástky

Integrované obvody

Část 11: Oddíl 1: Vnitřní vizuální kontrola

pro polovodičové integrované obvody

kromě hybridních obvodů

ČSN

IEC 748-11-1

QC 790101

35 8798

Semiconductor devices. Integral circuits. Part 11: Section 1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits.

Dispositfs à semiconducteurs. Circuits intégrés. Partie 11: Section 1: Examen visuel interne pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides.

Halbleiterbaumelemente. Integrierte Schaltungen. Teil 11: Abteil 1: Interne visuelle Kontrole für integrierte Halbleiterschaltungen mit Ausnahme der hybriden Schaltungen.

Tato norma je identická s IEC 748-11-1/QC 790101: 1992. This standard is identical with IEC 748-11-1/QC 790101: 1992.

Norma platí pro certifikaci v rámci Systémů IEC.

This standard applies for certification within IEC Systems.

Národní předmluva

Česká republika je od 6. 6. 1993 samostatným členem mezinárodního certifikačního systému IECQ a výkonem Národního dohlížecího inspektorátu systému IECQ byl pověřen Elektrotechnický zkušební ústav - Státní zkušebna č. 201. Proto je česká norma označena i číslem QC.

Citované normy

IEC 748-11: 1990 zavedena v ČSN IEC 748-11 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 11: Dílčí norma pro polovodičové integrované obvody kromě hybridních obvodů. (idt IEC 748-11: 1990) (35 8798)

Obdobné mezinárodní, regionální a zahraniční normy

IEC 748-11-1 Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 11: Section 1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits. (Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 11: Oddíl 1: Vnitřní vizuální kontrola pro polovodičové integrované obvody kromě hybridních obvodů).

BS QC 790101: 1992; IEC 748-11-1: 1992 Harmonized system of quality assessment for electronic components. Semiconductor devices. Integrated circuits. Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits. (Harmonizovaný systém řízení jakosti elektronických součástek. Polovodičové součástky. Integrované obvody. Dílčí specifikace pro polovodičové integrované obvody kromě hybridních obvodů).

Vypracování normy

Zpracovatel: Tesla SEZAM a. s., Rožnov pod Radhoštěm, IČO 15503402 - Ing. Dagmar Balášová Technická normalizační komise: TNK 102 Součástky a materiály pro elektroniku a elektrotechniku Pracovník Českého normalizačního institutu: Ing. Jiří Strnad

© Český normalizační institut, 1996

20040

ČSN IEC 748-11-1

IEC 748-11-1

QC 790101

První vydání 1992

MEZINÁRODNÍ NORMA

Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 11: Oddíl 1: Vnitřní vizuální kontrola pro polovodičové integrované obvody kromě hybridních obvodů

Obsah

Strana

Předmluva.....................................................................................................................................................................................       3

Kapitola

1       Rozsah a účel........................................................................................................................................................................       3

2       Zařízení................................................................................................................................................................................      4

3       Postup pro integrované obvody............................................................................................................................................      4

3. 0    Úvod.....................................................................................................................................................................................      4

3. 1    Zkušební podmínky..............................................................................................................................................................       6

3. 2    Stanovené podmínky............................................................................................................................................................     13

Obrázky.........................................................................................................................................................................................     13

Předmluva

1)    Oficiální rozhodnutí nebo dohody IEC, týkající se technických otázek zpracovaných technickými komisemi v nichž jsou zastoupeny všechny zainteresované národní komitéty, vyjadřují v nejvyšší možné míře mezinárodní shodu v názoru na předmět, kterého se týkají.

2)  Mají formu doporučení pro mezinárodní použití a v tomto smyslu jsou přijímána národními komitéty.

3)   Na podporu mezinárodního sjednocení vyjadřuje IEC přání, aby všechny národní komitéty převzaly text doporučení IEC do svých národních předpisů v rozsahu, který národní podmínky dovolují. Jakýkoliv rozdíl mezi doporučením IEC a odpovídajícím národním předpisem by měl být pokud možno v národním předpise jasně vyznačen.

Tato mezinárodní norma, která je doplňkem IEC 748-11, byla vypracovaná subkomisí SC 47A: Integrované obvody a technickou komisí TC 47: Polovodičové součástky.

Tato norma je dílčí specifikací pro polovodičové integrované obvody kromě obvodů hybridních v rámci systému IECQ pro elektronické součástky.

Text normy vychází z těchto dokumentů:

Úplné informace o hlasování o této normě jsou uvedeny ve Zprávě o hlasování, uvedené v tabulce. QC číslo na titulní straně této normy je číslem specifikace v systému IECQ pro elektronické součástky.

1 Rozsah a účel

Účelem těchto zkoušek je prověřit, zda použité vnitřní materiály, konstrukce a zpracování integrovaných obvodů odpovídají požadavkům příslušné specifikace.

Tyto zkoušky se normálně provádějí předtím, než se integrované obvody opatří krytem nebo před zapouzdřením, jako 100% kontrola ke zjištění a vyřazení součástek s vnitřními vadami, které mohou vést к poruše součástek při běžném použití. Mohou se také provádět jako výběrová kontrola před zapouzdřením, ke zjištění účinnosti řízení jakosti výrobce a manipulačních postupů pro polovodičové součástky.

3

Zdroj: www.cni.cz