Zdroj: www.cni.cz

MDT 778. 14. 001. 4 ČESKOSLOVENSKÁ STÁTNÍ NORMA             Schválena: 27. 3. 1987

Reprografie

TECHNOLOGICKÉ KONTROLY V MIKROGRAFII

ČSN 01 3829

ČSN 01 3829 (eqv ST SEV 5671-86)

Микрография. Технологические процессы. Методы контроля

Micrographie checking procedures

Tato norma je překladem ST SEV 5671-86 Mikrografie, Technologické postupy. Kontrolní metody.

Ve smluvně právních vztazích při hospodářské a vědeckotechnické spolupráci mezi státy, které normu schválily, se používá (v odvolávkách ve smluvních dokumentech) přímo norma RVHP X).

1. NASTAVENÍ ROVNOMĚRNOSTI OPTICKÉ HUSTOTY V EXPOZIČNÍM POLI

1. 1.   Rovnoměrnost optické hustoty se prověřuje po instalaci kamery, po výměně zdroje světla nebo po změně jeho polohy a při nasazení mikrografického filmu s odlišnou gradací.

1. 2.    Kontrola se uskutečňuje pomocí zkušební předlohy nasvětlení a prosvětlení stolu kamery. Příklad zkušební předlohy je v informační příloze 1. Zkušební předloha pro nasvětlení je zhotovena na papírové podložce s odraznou hustotou rD = 0, 1; zkušební předloha pro prosvětlení je zhotovena na podložce obdobné prostupné hustoty.

1. 3.   Rovnoměrnost optické hustoty v expozičním poli se zjišťuje při hustotě D <= 0, 9 ve středu pole. Odchylky v jednotlivých měrných bodech (kruzích) nesmějí být větší než ±0, 1. Optická hustota se měří denzitometrem podle ČSN 66 6607.

x) Viz dodatek - porovnání s ST SEV 5671-86.

Účinnost od: 1. 1. 1988

24168

Zdroj: www.cni.cz