Zdroj: www.cni.cz

MDT 539. 12. 075: ČESKOSLOVENSKÁ STÁTNÍ NORMA Schválena: 14. 3. 1991 621. 382

SPEKTROMETRY ENERGIÍ ZÁŘENÍ X

S POLOVODIČOVÝMI DETEKTORY

Metody zkoušení

ČSN 35 6575

JK 396 68

ČSN 35 6575 (eqv IEC 759-1983)

Спектрометры энергий рентгеновского-излучения с полупроводниковыми детекторами. Методы испытаний

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

Tato norma není závazná podle § 3 zákona č. 96/1964 Sb. o technické normalizaci.

Poznámky:

1.   Závaznost ustanovení normy může být stanovena jiným právním předpisem.

2.   Podmínkou pro uvedení údaje o dosažení shody s normou je splnění všech normativních požadavků normy.

Tato norma je překladem IEC 759 Metody zkoušení spektrometrů energií záření X s polovodičovými detektory, první vydání 1983.

Do normy jsou doplněna v čl. 2 a 3 doplňující ustanovení označená "čs. doplněk".

Tato norma bez čs. doplňků je přeložena z anglického znění bez redakčních úprav. V případě, že by vznikl spor o výklad, použije se původní anglické znění normy.

This standard is translation of the IEC Publication 759 Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers, First edition 1983.

This standard contains amendments in Clauses 2 and 3. These amendments are indicated "čs. doplněk" (cs. amendment).

The standard without cs. amendments is translated from the English version without editorial changes. In all cases of interpretation disputes, the English version applies.

Účinnost od: 1. 2. 1992

33121

Zdroj: www.cni.cz