ČESKÁ TECHNICKÁ NORMA
ICS 31.080.01 Prosinec 2017
|
Polovodičové součástky – Mechanické a klimatické
zkoušky – |
ČSN
|
idt IEC 60749-28:2017
Semiconductor devices – Mechanical
and climatic test methods –
Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Charged
device model (CDM) – device level
Dispositifs à semiconducteurs –
Méthodes d’essai mécaniques et climatiques –
Partie 28: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) – Modèle
de dispositif chargé par contact direct
(DC-CDM)
Halbleiterbauelemente –
Mechanische und klimatische Prüfverfahren –
Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) –
Charged Device Model (CDM) – Device Level
Tato norma přejímá anglickou verzi evropské normy EN 60749-28:2017. Má stejný status jako oficiální verze.
This standard implements the English version of the European Standard EN 60749-28:2017. It has the same status as the official version.
Anotace obsahu
Tato norma stanoví postup pro zkoušení, vyhodnocování a klasifikaci
součástek a mikroobvodů podle jejich
náchylnosti (citlivosti) na poškození nebo degradaci vystavením definovanému
indukovanému poli elektrostatického výboje (ESD) modelu nabité součástky (CDM).
Všechny zapouzdřené polovodičové součástky, tenkovrstvé obvody, součástky s povrchovou
akustickou vlnou (SAW), optoelektronické součástky, hybridní integrované
obvody (HIC) a vícečipové moduly (MCM) obsahující některé z těchto
součástek, budou hodnoceny podle tohoto dokumentu. K provedení zkoušek
jsou součástky sestaveny do bloku, který je podobný očekávanému konečnému
použití. Tento dokument CDM se nevztahuje na model vybíjení pomocí paticového
zkušebního zařízení. Tento dokument
popisuje metodu indukce polem (FI). Jiná metoda (metoda přímého kontaktu (DC))
je popsána v příloze I.
Účelem tohoto dokumentu je stanovit zkušební metodu, která bude opakovaně vyvolávat poruchy CDM a poskytovat spolehlivé, opakovatelné výsledky zkoušek ESD CDM z jednotlivých zkušebních zařízení bez ohledu na typ součástky. Opakované údaje budou umožňovat přesné klasifikace a srovnání úrovní citlivosti ESD CDM.