ČESKÁ TECHNICKÁ NORMA
ICS 35.240.15 Červen 2019
Identifikační karty – Zkušební metody – |
ČSN 36 9737 |
Identification cards – Test
methods –
Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface
devices
Cartes d’identification – Méthodes d’essai –
Partie 3: Cartes à circuit(s) intégré(s)
à contacts et dispositifs d’interface assimilés
Tato norma je českou verzí mezinárodní normy ISO/IEC 10373-3:2018. Překlad byl zajištěn Českou agenturou pro standardizaci. Má stejný status jako oficiální verze.
This standard is the Czech version of the International Standard ISO/IEC 10373-3:2018. It was translated by the Czech Agency for Standardization. It has the same status as the official version.
Nahrazení předchozích norem
Touto normou se nahrazuje ČSN ISO/IEC 10373-3 (36 9737) z července 2011.
Národní předmluva
Změny proti předchozí normě
Toto třetí vydání zrušuje a nahrazuje druhé vydání (ISO/IEC 10373-3:2010), které bylo technicky zrevidováno. Třetí vydání zahrnuje také technickou opravu ISO/IEC 10373-3:2010/Cor.1:2013-09.
Hlavní změny proti předchozímu vydání jsou následující:
– ediční vysvětlení scénáře 6 (6.3.6.2.2 v předchozím vydání) s doplněním podporovaných hodnot PCB;
– různé ediční úpravy, např. symbolů, poznámek a odkazů.
Informace o citovaných dokumentech
ISO/IEC 7816-3:2006 zavedena v ČSN ISO/IEC 7816-3:2010 (36 9205) Identifikační karty – Karty s integrovanými obvody – Část 3: Karty s kontakty – Elektrické rozhraní a protokoly přenosu
Souvisící ČSN
ČSN ISO/IEC 7810:2004 (36 9725) Identifikační karty – Fyzikální charakteristiky
ČSN ISO/IEC 7816-4 (36 9205) Identifikační karty – Karty s integrovanými obvody – Část 4: Organizace, bezpečnost a příkazy pro výměnu
Upozornění na národní poznámky
Do normy byla do Předmluvy doplněna národní poznámka upozorňující na nesprávný název subkomise SC 17.
Vysvětlivky k textu převzaté normy
anglický termín |
obvyklé překlady |
functionality |
· funkcionalita · funkčnost |
guard time |
· ochranná doba · ochranný interval |
I/O |
· kontakt I/O · vstup/výstup |
leading edge |
· úvodní hrana (signálu) · přední hrana (signálu) |
procedure |
· postup · procedura |
signal transitions |
· přechody signálu |
spike |
· špička (proudová) · vrcholová hodnota (proudu) |
T=0 |
· T=0 · poloduplexní přenos znaků |
T=1 |
· T=1 · poloduplexní přenos bloků |
test capability |
· zkušební způsobilost · možnosti zkoušky |
test-apparatus |
· zkoušeč · zkušební aparatura |
Vypracování normy
Zpracovatel: Anna Juráková, Praha, IČO 61278386, Dr. Karel Jurák
Technická normalizační komise: TNK 42 Výměna dat
Pracovník České agentury pro standardizaci: Ing. Miroslav Škop
Česká agentura pro standardizaci je státní příspěvková organizace zřízená Úřadem pro technickou normalizaci, metrologii a státní zkušebnictví na základě ustanovení § 5 odst. 2 zákona č. 22/1997 Sb., o technických požadavcích na výrobky a o změně a doplnění některých zákonů, ve znění pozdějších předpisů.
MEZINÁRODNÍ NORMA
Identifikační karty –
Zkušební metody – ISO/IEC 10373-3
Část 3: Karty s integrovanými obvody s kontakty Třetí vydání
a příslušná zařízení rozhraní 2018-09
ICS 35.240.15
Obsah
Strana
Předmluva..................................................................................................................................................................................................... 6
1......... Předmět normy................................................................................................................................................................................ 7
2......... Citované dokumenty....................................................................................................................................................................... 7
3......... Termíny a definice........................................................................................................................................................................... 7
4......... Obecné údaje vztahující se ke zkušebním metodám............................................................................................................... 8
4.1...... Zkušební prostředí........................................................................................................................................................................... 8
4.2...... Aklimatizace před zkouškou.......................................................................................................................................................... 8
4.3...... Výběr zkušebních metod................................................................................................................................................................ 8
4.4...... Standardní tolerance....................................................................................................................................................................... 8
4.5...... Celková nejistota měření............................................................................................................................................................... 8
4.6...... Konvence pro elektrická měření................................................................................................................................................... 8
4.7...... Zkoušeč............................................................................................................................................................................................. 9
4.7.1... Zkoušeč pro zkoušení karet s integrovanými obvody s kontakty (zkoušeč karet)............................................................... 9
4.7.2... Zkoušeč pro zkoušení zařízení rozhraní (zkoušeč IFD)......................................................................................................... 12
4.7.3... Zkušební scénář............................................................................................................................................................................ 16
4.8...... Vztah mezi zkušebními metodami a požadavky základní normy....................................................................................... 16
5......... Zkušební metody elektrických charakteristik karet s kontakty............................................................................................... 18
5.1...... Kontakt VCC................................................................................................................................................................................... 18
5.1.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 18
5.1.2... Zkoušeč........................................................................................................................................................................................... 18
5.1.3... Postup.............................................................................................................................................................................................. 18
5.1.4... Protokol o zkoušce........................................................................................................................................................................ 19
5.2...... Kontakt I/O....................................................................................................................................................................................... 19
5.2.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 19
5.2.2... Zkoušeč........................................................................................................................................................................................... 19
5.2.3... Postup.............................................................................................................................................................................................. 19
5.2.4... Protokol o zkoušce........................................................................................................................................................................ 20
5.3...... Kontakt CLK.................................................................................................................................................................................... 20
5.3.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 20
5.3.2... Zkoušeč........................................................................................................................................................................................... 20
5.3.3... Postup.............................................................................................................................................................................................. 20
5.3.4... Protokol o zkoušce........................................................................................................................................................................ 21
5.4...... Kontakt RST.................................................................................................................................................................................... 21
5.4.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 21
Strana
5.4.2... Zkoušeč........................................................................................................................................................................................... 21
5.4.3... Postup.............................................................................................................................................................................................. 21
5.4.4... Protokol o zkoušce........................................................................................................................................................................ 22
5.5...... Kontakt SPU (C6).......................................................................................................................................................................... 22
6......... Zkušební metody logických operací karet s kontakty............................................................................................................. 22
6.1...... Odpověď na reset.......................................................................................................................................................................... 22
6.1.1... Studený reset a odpověď-na-reset (ATR)................................................................................................................................. 22
6.1.2... Teplý reset...................................................................................................................................................................................... 22
6.2...... Protokol T=0................................................................................................................................................................................... 23
6.2.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 23
6.2.2... Časování přenosu I/O pro protokol T=0.................................................................................................................................... 23
6.2.3... Opakování znaku I/O pro protokol T=0...................................................................................................................................... 23
6.2.4... Časování I/O v režimu příjmu a signalizace chyby pro protokol T=0.................................................................................. 24
6.3...... Protokol T=1................................................................................................................................................................................... 24
6.3.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 24
6.3.2... Časování přenosu I/O pro protokol T=1.................................................................................................................................... 25
6.3.3... Časování I/O v režimu příjmu pro protokol T=1....................................................................................................................... 25
6.3.4... Chování podle doby čekání na znak (CWT)............................................................................................................................. 26
6.3.5... Reakce karty na překročení CWT zařízením IFD..................................................................................................................... 26
6.3.6... Ochranná doba bloku (BGT)....................................................................................................................................................... 27
6.3.7... Sekvenční uspořádání bloku kartou.......................................................................................................................................... 28
6.3.8... Reakce karty na chyby protokolu................................................................................................................................................ 29
6.3.9... Zotavení karty po chybě v přenosu............................................................................................................................................ 30
6.3.10 Resynchronizace........................................................................................................................................................................... 30
6.3.11 Vyjednávání IFSD.......................................................................................................................................................................... 31
6.3.12 Odmítnutí zařízením IFD.............................................................................................................................................................. 32
7......... Zkušební metody fyzikálních a elektrických charakteristik zařízení IFD............................................................................. 32
7.1...... Aktivace kontaktů........................................................................................................................................................................... 32
7.1.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 32
7.1.2... Zkoušeč........................................................................................................................................................................................... 32
7.1.3... Postup.............................................................................................................................................................................................. 32
7.1.4... Protokol o zkoušce........................................................................................................................................................................ 33
7.2...... Kontakt VCC................................................................................................................................................................................... 33
7.2.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 33
7.2.2... Zkoušeč........................................................................................................................................................................................... 33
7.2.3... Postup.............................................................................................................................................................................................. 33
7.2.4... Protokol o zkoušce........................................................................................................................................................................ 34
7.3...... Kontakt I/O....................................................................................................................................................................................... 34
7.3.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 34
7.3.2... Zkoušeč........................................................................................................................................................................................... 34
7.3.3... Postup.............................................................................................................................................................................................. 34
7.3.4... Protokol o zkoušce........................................................................................................................................................................ 35
7.4...... Kontakt CLK.................................................................................................................................................................................... 35
7.4.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 35
7.4.2... Zkoušeč........................................................................................................................................................................................... 35
7.4.3... Postup.............................................................................................................................................................................................. 36
Strana
7.4.4... Protokol o zkoušce........................................................................................................................................................................ 37
7.5...... Kontakt RST.................................................................................................................................................................................... 37
7.5.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 37
7.5.2... Zkoušeč........................................................................................................................................................................................... 37
7.5.3... Postup.............................................................................................................................................................................................. 37
7.5.4... Protokol o zkoušce........................................................................................................................................................................ 38
7.6...... Kontakt SPU (C6).......................................................................................................................................................................... 38
7.7...... Deaktivace kontaktů...................................................................................................................................................................... 38
7.7.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 38
7.7.2... Zkoušeč........................................................................................................................................................................................... 38
7.7.3... Postup.............................................................................................................................................................................................. 38
7.7.4... Protokol o zkoušce........................................................................................................................................................................ 38
8......... Zkušební metody logických operací zařízení IFD.................................................................................................................... 38
8.1...... Odpověď na reset.......................................................................................................................................................................... 38
8.1.1... Reset karty (studený reset).......................................................................................................................................................... 38
8.1.2... Reset karty (teplý reset)................................................................................................................................................................ 39
8.2...... Protokol T=0................................................................................................................................................................................... 39
8.2.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 39
8.2.2... Časování přenosu I/O pro protokol T=0.................................................................................................................................... 39
8.2.3... Opakování znaku I/O pro protokol T=0...................................................................................................................................... 40
8.2.4... Časování příjmu I/O a signalizace chyby pro protokol T=0................................................................................................... 40
8.3...... Protokol T=1................................................................................................................................................................................... 41
8.3.1... Obecně............................................................................................................................................................................................ 41
8.3.2... Časování přenosu I/O pro protokol T=1.................................................................................................................................... 41
8.3.3... Časování příjmu I/O pro protokol T=1........................................................................................................................................ 42
8.3.4... Chování IFD podle doby čekání na znak (CWT)..................................................................................................................... 43
8.3.5... Reakce zařízení IFD na kartu překračující CWT...................................................................................................................... 43
8.3.6... Ochranná doba bloku (BGT)....................................................................................................................................................... 44
8.3.7... Sekvenční uspořádání bloku zařízením IFD............................................................................................................................ 44
8.3.8... Zotavení IFD po chybě přenosu.................................................................................................................................................. 46
8.3.9... Vyjednávání IFSC.......................................................................................................................................................................... 46
8.3.10 Odmítnutí kartou............................................................................................................................................................................ 47
8.4...... IFD – Reakce IFD na neplatné bajty PCB................................................................................................................................. 48
Bibliografie.................................................................................................................................................................................................. 49
DOKUMENT CHRÁNĚNÝ COPYRIGHTEM |
© ISO/IEC 2018 Veškerá práva vyhrazena. Žádná část této publikace nesmí být,
není-li specifikováno jinak nebo nepožaduje-li se to v souvislosti s její
ISO copyright office CP 401 · CH. de Blandonnet 8 CH-1214 Vernier, Geneva Phone:. + 41 22 749 01 11 Fax: + 41 22 749 09 47 Email: copyright@iso.org Website: www.iso.org Publikováno ve Švýcarsku |
ISO (Mezinárodní organizace pro normalizaci) a IEC (Mezinárodní elektrotechnická komise) tvoří specializovaný systém celosvětové normalizace. Národní orgány, které jsou členy ISO nebo IEC, se podílejí na vypracování mezinárodních norem prostřednictvím svých technických komisí ustavených příslušnými organizacemi pro jednotlivé obory technické činnosti. Technické komise ISO a IEC spolupracují v oborech společného zájmu. Práce se zúčastňují také další vládní i nevládní mezinárodní organizace, s nimiž ISO a IEC navázaly pracovní styk. V oblasti informační technologie zřídily ISO a IEC společnou technickou komisi ISO/IEC JTC 1.
Postupy použité při tvorbě tohoto dokumentu a postupy určené pro jeho další udržování jsou popsány ve směrnicích ISO/IEC, část 1. Zejména se má věnovat pozornost rozdílným schvalovacím kritériím potřebným pro různé druhy dokumentů. Tento dokument byl vypracován v souladu s redakčními pravidly uvedenými ve směrnicích ISO/IEC, část 2 (viz www.iso.org/directives).
Upozorňuje se na možnost, že některé prvky tohoto dokumentu
mohou být předmětem patentových práv.
ISO a IEC nelze činit odpovědnými za
identifikaci jakéhokoliv nebo všech patentových práv. Podrobnosti
o jakýchkoliv patentových právech identifikovaných během přípravy
tohoto dokumentu budou uvedeny v úvodu a/nebo v seznamu patentových
prohlášení obdržených ISO (viz www.iso.org/patents).
Jakýkoliv obchodní název použitý v tomto dokumentu se uvádí jako informace pro usnadnění práce uživatelů a neznamená schválení.
Vysvětlení nezávazného charakteru technických norem, významu
specifických termínů a výrazů ISO, které se vztahují k posuzování
shody, jakož i informace o tom, jak ISO dodržuje principy Světové
obchodní organizace (WTO) týkající se technických překážek obchodu (TBT), jsou
uvedeny na tomto odkazu URL:
www.iso.org/iso/foreword.html.
Tento dokument vypracovala ISO/IEC JTC 1 Informační technologie, subkomise SC 17 Karty a osobní identifikace.NP)
Toto třetí vydání zrušuje a nahrazuje druhé vydání (ISO/IEC 10373-3:2010), které bylo technicky zrevidováno. Třetí vydání zahrnuje také technickou opravu ISO/IEC 10373-3:2010/Cor.1:2013.
Hlavní změny proti předchozímu vydání jsou následující:
– ediční vysvětlení scénáře 6 (6.3.6.2.2 v předchozím vydání) s doplněním podporovaných hodnot PCB;
– různé ediční úpravy, např. symbolů, poznámek a odkazů.
Seznam všech částí souboru ISO/IEC 10373 lze nalézt na webových stránkách ISO.
Jakákoliv zpětná vazba nebo otázky týkající se tohoto dokumentu by měly být směrovány na národní normalizační orgán uživatele. Úplný seznam těchto orgánů lze nalézt na www.iso.org/members.html.
Tento dokument definuje zkušební metody charakteristik karet s integrovanými obvody s kontakty a příslušných zařízení rozhraní podle definic uvedených v ISO/IEC 7816-3. Každá zkušební metoda obsahuje křížové odkazy na jednu nebo více základních norem, např. ISO/IEC 7810, které definují technologie ukládání informací použitých v aplikacích identifikačních karet.
POZNÁMKA Kritéria přijatelnosti nejsou součástí tohoto dokumentu, lze je však nalézt v mezinárodních normách uvedených výše.
Tento dokument definuje zkušební metody, které jsou specifické pro technologii integrovaných obvodů s kontakty. ISO/IEC 10373-1 definuje zkušební metody, které jsou společné pro jednu nebo více technologií karet a další části souboru ISO/IEC 10373 definují jiné technologicky specifické zkušební metody.
Zkušební metody definované v tomto dokumentu jsou určeny, že budou prováděny samostatně a nezávisle. Pro dané karty se nepožaduje, aby procházely postupně všemi zkouškami. Zkušební metody definované v tomto dokumentu jsou založeny na ISO/IEC 7816-3.
Shoda karet a zařízení IFD stanovená pomocí zkušebních metod definovaných v tomto dokumentu nezaručuje, že nedojde k selhání v provozu. Spolehlivostní zkoušky jsou mimo předmět tohoto dokumentu.
Tento dokument nedefinuje libovolnou zkoušku, která prověřuje plnou funkčnost karet s integrovanými obvody. Zkušební metody prověřují pouze minimální funkčnost. Minimální funkčnost je definovaná následovně.
– Libovolný integrovaný obvod přítomný na kartě pokračuje v odpovídání na reset tak, že je ve shodě se základní normou.
–
Libovolné kontakty příslušné
libovolnému integrovanému obvodu, který je přítomen na kartě, pokračují
ve vyka-
zování elektrické rezistence, která je ve shodě se základní normou.
Konec náhledu - text dále pokračuje v placené verzi ČSN.
NP) NÁRODNÍ POZNÁMKA V přejímané normě není uveden úplný název subkomise SC 17. Subkomise SC 17 má název Karty a bezpečnostní zařízení pro osobní identifikaci.
Zdroj: www.cni.cz