ČESKÁ TECHNICKÁ NORMA
ICS 31.080.01 Duben 2021
Polovodičové součástky – Mechanické a klimatické
zkoušky – |
ČSN 35 8799 |
idt IEC 60749-20:2020
Semiconductor devices – Mechanical and climatic
test methods –
Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of
moisture and soldering heat
Dispositifs à semiconducteurs –
Méthodes d’essais mécaniques et climatiques –
Partie 20: Résistance des CMS à boîtier plastique à l’effet
combiné de l’humidité et de la chaleur de brasage
Halbleiterbauelemente –
Mechanische und klimatische Prüfverfahren –
Teil 20: Beständigkeit kunststoffverkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente
(SMD) gegenüber der kombinierten Beanspruchung von Feuchte und Lötwärme
Tato norma přejímá anglickou verzi evropské normy EN IEC 60749-20:2020. Má stejný status jako oficiální verze.
This standard implements the English version of the European Standard EN IEC 60749-20:2020. It has the same status as the official version.
Nahrazení předchozích norem
S účinností od 2023-10-05 se nahrazuje ČSN EN 60749-20 ed. 2 (35 8799) z května 2010, která do uvedeného data platí souběžně s touto normou.
Anotace obsahu
Tato norma poskytuje prostředky pro hodnocení odolnosti proti teplu při pájení uzavřených polovodičů, jako jsou v plastu zapouzdřené součástky pro povrchovou montáž (SMD). Tato zkouška je destruktivní.
Národní předmluva
Upozornění na používání této normy
Souběžně s touto normou je v souladu s předmluvou k EN IEC 60749-20:2020 dovoleno do 2023-10-05 používat dosud platnou ČSN EN 60749-20 ed. 2 (35 8799) z května 2010.
Změny proti předchozí normě
Tato norma představuje technickou revizi textu a obsahuje následující významné změny ve srovnání s předchozí normou:
– začlenění technické opravy k IEC 60749-20:2008 (druhé vydání);
– zahrnutí nové kapitoly 3;
– zahrnutí vysvětlivek.
Informace o citovaných dokumentech
IEC 60068-2-20:2008 zavedena v ČSN EN 60068-2-20:2009 (34 5791) Zkoušení vlivů prostředí – Část 2-20: Zkoušky – Zkouška T: Zkušební metody na pájitelnost a na odolnost proti teplu při pájení pro součástky s vývody
IEC 60749-3 zavedena v ČSN EN 60749-3 ed. 2 (35 8799) Polovodičové součástky – Mechanické a klimatické zkoušky – Část 3: Vnější vizuální kontrola
IEC 60749-30 zavedena v ČSN EN IEC 60749-30 ed. 2 (35 8799) Polovodičové součástky – Mechanické a klimatické zkoušky – Část 30: Aklimatizace nehermetických součástek pro povrchovou montáž před zkouškou spolehlivosti
IEC 60749-35 zavedena v ČSN EN 60749-35 (35 8799) Polovodičové součástky – Mechanické a klimatické zkoušky – Část 35: Akustická mikroskopie pro elektronické součástky zapouzdřené v plastu
Vysvětlivky k textu této normy
V případě nedatovaných odkazů na evropské/mezinárodní normy jsou ČSN uvedené v článku „Informace o citovaných dokumentech“ nejnovějšími vydáními, platnými v době schválení této normy. Při používání této normy je třeba vždy použít taková vydání ČSN, která přejímají nejnovější vydání nedatovaných evropských/mezinárodních norem (včetně všech změn).
Upozornění na národní přílohu
Do této normy byla doplněna národní příloha NA, která obsahuje překlad kapitoly 3 mezinárodní normy.
Vypracování normy
Zpracovatel: Česká agentura pro standardizaci, IČO 06578705
Technická normalizační komise: TNK 102 Součástky a materiály pro elektroniku a elektrotechniku
Pracovník České agentury pro standardizaci: Ing. Jan Křivka
Česká agentura pro standardizaci je státní příspěvková organizace zřízená Úřadem pro technickou normalizaci, metrologii a státní zkušebnictví na základě ustanovení § 5 odst. 2 zákona č. 22/1997 Sb., o technických požadavcích na výrobky a o změně a doplnění některých zákonů, ve znění pozdějších předpisů.
Konec náhledu - text dále pokračuje v placené verzi ČSN v anglickém jazyce.
Zdroj: www.cni.cz