ČESKÁ TECHNICKÁ NORMA
ICS
31.080.01 Červenec
2024
|
Polovodičové součástky – Mechanické a klimatické
zkoušky –
Část 5: Zkouška životnosti konstantní teplotou a vlhkostí při elektrické
polarizaci
|
ČSN
EN IEC 60749-5
ed. 3
35 8799
|
idt IEC 60749-5:2023
Semiconductor devices – Mechanical and climatic
test methods –
Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Dispositifs à semiconducteurs –
Méthodes d’essais mécaniques et climatiques –
Partie 5: Essai continu de durée de vie sous
température et humidité avec polarisation
Halbleiterbauelemente –
Mechanische und klimatische Prüfverfahren –
Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und
Feuchte unter elektrischer Beanspruchung
Tato norma přejímá anglickou verzi evropské normy
EN IEC 60749-5:2024. Má stejný status jako oficiální verze.
This standard implements the English version of the European
Standard EN IEC 60749-5:2024. It has the same status as the official
version.
Nahrazení předchozích norem
S účinností od 2027-01-23 se nahrazuje ČSN EN 60749-5
ed. 2 (35 8799) z prosince 2017, která do uvedeného data platí
souběžně s touto normou.
Anotace obsahu
Tato norma poskytuje zkoušku životnosti konstantní teplotou
a vlhkostí při elektrické polarizaci za účelem vyhodnocení spolehlivosti
nehermeticky zapouzdřených polovodičových součástek ve vlhkém prostředí. Tato
zkouška je považována za destruktivní.
Národní předmluva
Upozornění na používání této normy
Souběžně s touto normou je v souladu
s předmluvou k EN IEC 60749-5:2024 dovoleno do 2027-01-23 používat
dosud platnou ČSN EN 60749-5 ed. 2 (35 8799) z prosince 2017.
Změny proti předchozí normě
Toto vydání představuje
technickou revizi textu a obsahuje následující významné změny ve srovnání
s předchozím vydáním:
a) specifikace zkušebního
zařízení se mění z důvodu potřeby minimalizovat gradienty relativní
vlhkosti a maximalizovat proudění vzduchu mezi zkoušenými polovodičovými
součástkami;
b) specifikace zkušebního přípravku zařízení se mění
tak, aby se zabránilo kondenzaci na zkoušených součástkách a na
elektrickém přípravku spojujícím součástku se zkušebním zařízením;
c) nahrazení termínu
„virtuální přechod (virtual junction)“ termínem „čip (die)“.
Informace o citovaných dokumentech
EN 60749-4 zavedena
v ČSN EN 60749-4 ed. 2 (35 8799) Polovodičové
součástky – Mechanické a klimatické zkoušky – Část 4: Vlhké
teplo konstantní, velmi zrychlená zkouška namáháním (HAST)
Vysvětlivky k textu této normy
V případě nedatovaných odkazů na evropské/mezinárodní normy
jsou ČSN uvedené v článku „Informace o citovaných dokumentech“ nejnovějšími
vydáními, platnými v době schválení této normy. Při používání této normy
je třeba vždy použít taková vydání ČSN, která přejímají nejnovější vydání
nedatovaných evropských/mezinárodních norem (včetně všech změn).