Zdroj: www.cni.cz

ČESKÁ TECHNICKÁ NORMA

ICS 31.080.01; 31.240                                                                                                                          Srpen 2001

Rozměrová normalizace

polovodičových součástek -
Část 6-3: Všeobecná pravidla
pro přípravu výkresů pouzder

polovodičových součástek
pro povrchovou montáž -
Měřicí metody pro rozměry pouzder QFP

ČSN
EN 60191-6-3




35 8791

                                                                                            idt IEC 60191-6-3:2000

Mechanical standardization of semiconductor devices -
Part 6-3: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages  - Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP)

Normalisation mécanique des dispositifs à semiconducteurs -
Partie 6-3: Règles générales pour la préparation des dessins ďencombrement des dispositifs à semiconducteurs
à montage en surface - Méthodes de mesure pour les boîtiers plats quadrangulaires (QFP) 

Mechanische Normung von Halbleiterbauelemente -
Teil 6-3: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Gehäusezeichnungen von SMD-Halbleitegehäusen - Meßverfahren für QFP-Gehäusemaße

Oznámení o schválení

Evropská norma EN 60191-6-3:2000 Rozměrová normalizace polovodičových součástek - Část 6-3: Všeobecná pravidla pro přípravu výkresů pouzder polovodičových součástek pro povrchovou montáž - Měřicí metody pro rozměry pouzder QFP, která je úplným a nezměněným převzetím IEC 60191-6-3:2000, byla schválena Českým normalizačním institutem k přímému používání jako ČSN EN 60191-6-3 bez jakýchkoli modifikací. Evropská norma EN 60191-6-3:2000 má status české technické normy.

Uvedená evropská a původní mezinárodní norma jsou dostupné v Českém normalizačním institutu, oddělení dokumentačních služeb, Praha 1, Biskupský dvůr 5.

Endorsement notice

The European Standard EN 60191-6-3:2000 Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-3: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP) which is the complete and unchanged adoption of the IEC 60191-6-3:2000, was approved by the Czech Standards Institute for direct use as the ČSN EN 60191-6-3 without any modification. The European Standard EN 60191-6-3:2000 has the status of a Czech Standard.

Both European and original International Standards are available at the Czech Standards Institute, Department of Documentation Services, Praha 1, Biskupský dvůr 5.

Anotace obsahu

Tato část evropské normy EN 60191 stanoví metodu, kterou se měří rozměry QFP, zatříděné do Tvaru E. Přejímaná norma se skládá ze tří stran anglického textu normy evropské a 17 stran anglického textu mezinárodní normy IEC.

 

 

 

 

 

© Český normalizační institut, 2001                                                                                                                                          62431
Podle zákona č. 22/1997 Sb. smějí být české technické normy rozmnožovány
a rozšiřovány jen se souhlasem Českého normalizačního institutu.

 



-- Vynechaný text --

Zdroj: www.cni.cz