ČESKÁ TECHNICKÁ NORMA

ICS 17.240; 27.120.10 Únor 2002

Přístroje jaderné techniky -

Mikroprocesorová zařízení k měření

jaderného záření

ČSN
IEC 1306

35 6650

Nuclear instrumentation - Microprocessor based nuclear radiation measuring devices

Instrumentation nucléaire - Dispositifs de mesurage de rayonnement pilotés par microprocesseur

Nukleare Instrumentierung - Mikroprozessor-gestützte Strahlungsmesseinrichtungen

Tato norma je českou verzí mezinárodní normy IEC 1306:1994. Mezinárodní norma IEC 1306:1994 má status české technické normy.

This standard is the Czech version of the International Standard IEC 1306:1994. The International Standard IEC 1306:1994 has the status of a Czech Standard.

© Český normalizační institut, 2002 63581
Podle zákona č. 22/1997 Sb. smějí být české technické normy rozmnožovány
a rozšiřovány jen se souhlasem Českého normalizačního institutu.

Strana 2

Národní předmluva

Citované normy

IEC 50(351):1975 nahrazena IEC 60050-351:1998 zavedenou v ČSN IEC 60050-351:1998 (33 0050) Mezinárodní elektrotechnický slovník - Část 351: Automatické řízení

IEC 50(391):1975 nahrazena IEC 50(393):1995 zavedenou v ČSN IEC 50(393):2000 (33 0050) Mezinárodní elektrotechnický slovník - Kapitola 393: Přístroje jaderné techniky - Fyzikální jevy a základní pojmy

IEC 50(392):1976 nahrazena IEC 50(394):1995 zavedenou v ČSN IEC 50(394)+A1:1997 (33 0050) Mezinárodní elektrotechnický slovník - Kapitola 394: Přístroje jaderné techniky - Přístroje

IEC 86-1:1993 nahrazena IEC 60086-1:2000 zavedenou v ČSN EN 60086-1 ed. 2:2001 (36 4110) Primární baterie - Část 1: Všeobecně (idt EN 60086-1:2001, idt IEC 60086-1:2000)

IEC 86-2:1993 nahrazena IEC 60086-2:2000 zavedenou v ČSN EN 60086-2 ed. 2:2001 (36 4110) Primární baterie - Část 2: Fyzikální a elektrické specifikace (idt EN 60086-2:2001, idt IEC 60086-2:2000)

IEC 293:1968 (zrušena bez náhrady) zavedena v ČSN IEC 293:1996 (35 6600) Napájecí napětí pro tranzistorové přístroje jaderné techniky

IEC 359:1987 zavedena v ČSN IEC 359:1994 (35 6504) Vyjadřování vlastností elektrického a elektronického měřicího zařízení

IEC 777:1983 zavedena v ČSN IEC 777:1999 (35 6641) Názvosloví, veličiny a jednotky radiační ochrany

IEC 1187:1993 zavedena v ČSN EN 61187:1997 (35 6506) Elektrická a elektronická měřicí zařízení - Průvodní dokumentace (idt EN 61187:1994, mod IEC 1187:1993)

Vypracování normy

Zpracovatel: Bohumil Hájek, IČO 44368933

Technická normalizační komise: TNK 56 Elektrické měřicí přístroje

Pracovník Českého normalizačního institutu: Tomáš Pech

Strana 3

MEZINÁRODNÍ NORMA

Přístroje jaderné techniky -                                                                                      IEC 1306
Mikroprocesorová zařízení k měření jaderného záření                                    1. vydání
                                                                                                                                         1994-07

Obsah

Strana

Předmluva......................................................................................................................................................................................... 5

Úvod................................................................................................................................................................................................... 6

Kapitola

1 Rozsah platnosti a předmět normy................................................................................................................................. 7

2 Normativní odkazy............................................................................................................................................................... 7

3 Definice................................................................................................................................................................................. 7

4 Klasifikace a všeobecné úvahy....................................................................................................................................... 11

4.1 Klasifikace.......................................................................................................................................................................... 11

4.2 Všeobecné úvahy.............................................................................................................................................................. 11

5 Návrh a charakteristiky..................................................................................................................................................... 12

5.1 Návrh.................................................................................................................................................................................... 12

5.2 Charakteristiky................................................................................................................................................................... 13

5.3 Rozhraní detektoru............................................................................................................................................................ 13

5.4 Mikroprocesorové/paměťové/pomocné obvody.......................................................................................................... 13

5.5 Číslicové vstupy................................................................................................................................................................. 14

5.6 Analogové vstupy............................................................................................................................................................... 14

5.7 Číslicové výstupy................................................................................................................................................................ 14

5.8 Analogové výstupy............................................................................................................................................................. 14

5.9 Sériové komunikační vedení........................................................................................................................................... 14

6 Všeobecné zkušební postupy......................................................................................................................................... 15

6.1 Všeobecně.......................................................................................................................................................................... 15

6.2 Normální zkušební podmínky a jmenovitý rozsah použití.......................................................................................... 15

6.3 Obecné uspořádání pro zkoušku................................................................................................................................... 15

6.4 Předmět zkoušek............................................................................................................................................................... 17

7 Dokumentace..................................................................................................................................................................... 18

7.1 Protokol o typové zkoušce................................................................................................................................................ 18

7.2 Osvědčení výrobce............................................................................................................................................................ 18

7.3 Návod k obsluze a údržbě................................................................................................................................................ 18

8 Modulární mikroprocesorový měřič četnosti impulzů................................................................................................. 18

8.1 Konstrukce a vlastnosti.................................................................................................................................................... 18

8.2 Charakteristiky a zkušební metody................................................................................................................................ 20

8.2.1 Vstupní charakteristiky...................................................................................................................................................... 20

8.2.2 Vliv silných polí záření gama a neutronů....................................................................................................................... 20

8.2.3 Výstražné funkce................................................................................................................................................................ 20

Strana 4

Strana

8.2.4 Doba odezvy....................................................................................................................................................................... 20

8.2.5 Doba náběhu..................................................................................................................................................................... 20

8.2.6 Přesycení............................................................................................................................................................................ 21

8.2.7 Napájení.............................................................................................................................................................................. 21

8.2.8 Mechanické charakteristiky - rázy................................................................................................................................... 21

8.2.9 Okolní teplota..................................................................................................................................................................... 22

8.2.10 Relativní vlhkost................................................................................................................................................................. 22

8.2.11 Čitelnost zobrazovače....................................................................................................................................................... 22

8.2.12 Odolnost proti vlhkosti...................................................................................................................................................... 22

8.2.13 Vnější elektromagnetická pole....................................................................................................................................... 22

8.2.14 Vnější magnetická pole.................................................................................................................................................... 23

8.2.15 Skladování.......................................................................................................................................................................... 23

8.2.16 Rozlišovací doba............................................................................................................................................................... 23

8.2.17 Výstupní charakteristiky.................................................................................................................................................... 23

8.2.18 Přechodové jevy napájení................................................................................................................................................ 24

8.2.19 Spolehlivost........................................................................................................................................................................ 24

8.2.20 Období stárnutí.................................................................................................................................................................. 24

9 Mikroprocesorové lokální stanice k monitorování záření........................................................................................... 24

9.1 Návrh a vlastnosti.............................................................................................................................................................. 24

9.2 Charakteristiky a zkušební metody................................................................................................................................ 26

9.2.1 Analogové výstupy............................................................................................................................................................. 26

9.2.2 Přenosová funkce.............................................................................................................................................................. 26

9.2.3 Dekontaminace................................................................................................................................................................. 26

9.2.4 Kalibrace............................................................................................................................................................................. 26

9.2.5 Pomocná zařízení.............................................................................................................................................................. 27

9.2.6 Dodatečné napájecí charakteristiky............................................................................................................................... 27

10 Osobní a přenosná mikroprocesorová zařízení k měření záření............................................................................. 27

10.1 Návrh a vlastnosti.............................................................................................................................................................. 27

10.2 Charakteristiky a zkušební metody................................................................................................................................ 28

10.2.1 Pádová zkouška................................................................................................................................................................. 28

10.2.2 Bateriový provoz................................................................................................................................................................. 28

11 Mikroprogramové vybavení pro mikroprocesorová zařízení k měření jaderného záření...................................... 29

11.1 Všeobecné úvahy.............................................................................................................................................................. 29

11.2 Charakteristiky a zkušební metody................................................................................................................................ 29

11.2.1 Návrh programu................................................................................................................................................................. 29

11.2.2 Programová dokumentace.............................................................................................................................................. 29

Strana 5

Předmluva

1) IEC (Mezinárodní elektrotechnická komise) je celosvětovou normalizační organizací, zahrnující všechny národní elektrotechnické komitéty (národní komitéty IEC). Cílem IEC je podporovat mezinárodní spolupráci ve všech otázkách, které se týkají normalizace v oblasti elektrotechniky a elektroniky. Za tím účelem, kromě jiných činností, IEC vydává mezinárodní normy. Jejich příprava je svěřena technickým komisím, každý národní komitét IEC, který se zajímá o projednávaný předmět, se může těchto přípravných prací zúčastnit. Mezinárodní vládní i nevládní organizace, s nimiž IEC navázala pracovní styk se této přípravy rovněž zúčastňují. IEC úzce spolupracuje s Mezinárodní organizací pro normalizaci (ISO) v souladu s podmínkami dohodnutými mezi těmito dvěma organizacemi.

2) Oficiální rozhodnutí nebo dohody IEC týkající se technických otázek vyjadřují v největší možné míře mezinárodní shodu v názoru na předmět, kterého se týkají, jelikož jsou v každé technické komisi zastoupeny všechny zainteresované národní komitéty.

3) Vypracované dokumenty mají formu doporučení pro mezinárodní použití publikovaných formou norem, technických zpráv nebo pokynů a v tomto smyslu jsou přijímány národními komitéty.

4) Na podporu mezinárodního sjednocení národní komitéty IEC přebírají mezinárodní normy IEC transparentně v normální možné míře do svých národních a regionálních norem. Každý rozdíl mezi normou IEC a odpovídající národní nebo regionální normou se v těchto normách jasně vyznačí.

Mezinárodní norma IEC 1306 byla připravena technickou komisí IEC TC 45 Přístroje jaderné techniky.

Text této normy vychází z těchto dokumentů:

DIS	Zpráva o hlasování
45(CO)223	45(CO)264

Úplné informace o hlasování při schvalování této normy je možné nalézt ve zprávě o hlasování uvedené v tabulce.

Strana 6

Úvod

Použití mikroprocesorové techniky v přístrojích k detekci a monitorování záření změnilo filozofii konstrukce samotných přístrojů. Stejná základní struktura tedy konstruktérovi umožňuje realizovat širokou škálu funkcí, od jednoduchých měřičů četnosti k měřicím přístrojům s komplexním vybavením ke zpracování signálu včetně několika vstupních/výstupních zařízení.

Všechny mikroprocesorové přístroje jsou charakterizovány především svojí řídící a vyhodnocovací částí, která může být samostatným zařízením nebo částí většího systému v závislosti na konkrétním řešení a aplikaci.

Proto je tato mezinárodní norma použitelná jak na jednoduché, tak na složité přístroje, v závislosti na poskytovaných funkcích, ale spíše s ohledem na mikroprocesorovou strukturu než na použití.

Norma se zabývá obecnými požadavky použitelnými na mikroprocesorové přístroje k měření záření a dodatečnými specifickými požadavky použitelnými na:

– modulární mikroprocesorové měřiče četnosti;

– mikroprocesorové lokální stanice k monitorování záření;

– osobní a přenosné mikroprocesorové měřicí přístroje;

– mikroprogramové vybavení pro mikroprocesorová zařízení k měření jaderného záření.

Strana 7

1 Rozsah platnosti a předmět normy

Tato mezinárodní norma platí pro přístroje, které používají ke zpracování signálů (generovaných detektory záření) mikroprocesor.

Číslicové a analogové měřiče četnosti se již dlouho používají v jaderné oblasti, ve výzkumu, v průmyslu a radiační ochraně.

Řešení takovéhoto zařízení s mikroprocesorem umožňuje dosáhnout lepších vlastností pokud jde o přesnost, opakovatelnost, přizpůsobení aplikaci a univerzálnost, a umožňuje rozšířit funkce o různé pomocné činnosti.

Proto jsou tyto přístroje spíše považovány za mikroprocesorová zařízení k měření záření než za jednoduché měřiče četnosti.

Předmětem této normy je stanovit specifické standardní požadavky včetně charakteristik a zkušebních podmínek pro mikroprocesorová zařízení k měření záření.

2 Normativní odkazy

Součástí této normy jsou i ustanovení dále uvedených norem, na něž jsou odkazy v textu této mezinárodní normy. V době uveřejnění této mezinárodní normy byla platná uvedená vydání. Všechny normy podléhají revizím a účastníci, kteří uzavírají dohody na podkladě této mezinárodní normy, by měli využít nejnovějšího vydání dále uvedených norem. Členové IEC a ISO udržují seznamy platných mezinárodních norem.

IEC 50(351):1975 Mezinárodní elektrotechnický slovník - Kapitola 351: Automatické řízení

(International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Chapter 351: Automatic control)

IEC 50(391):1975 Mezinárodní elektrotechnický slovník - Kapitola 391: Detekce a měření ionizujícího záření elektrickými prostředky

(International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Chapter 391: Detection and measurement of ionizing radiation by electric means)

IEC 50(392):1976 Mezinárodní elektrotechnický slovník - Kapitola 392: Přístroje jaderné techniky -

Dodatek kapitoly 391

(International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Chapter 392: Nuclear instrumentation - Supplement to

Chapter 391)

IEC 86-1:1993 Primární baterie - Část 1: Všeobecně

(Primary batteries - Part 1: General)

IEC 86-2:1993 Primární baterie - Část 2: Specifikační listy

(Primary batteries - Part 2: Specification sheets)

IEC 293:1968 Napájecí napětí pro tranzistorové přístroje jaderné techniky

(Supply voltages for transistorised nuclear instruments)

IEC 359:1987 Vyjadřování vlastností elektrického a elektronického měřicího zařízení

(Expression of the performance of electrical and electronic measuring equipment)

IEC 777:1983 Názvosloví, veličiny a jednotky radiační ochrany

(Terminology, quantities and units radiation protection)

IEC 1187:1993 Elektrické a elektronické měřicí přístroje - Dokumentace

(Electrical and electronic measuring equipment - Documentation)

-- Vynechaný text --

Zdroj: www.cni.cz