ICS 31.200; 33.100.10 Květen 2003
|
|
Integrované obvody - |
ČSN 35 8798 |
idt IEC 61967- 6:2002
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz -
Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz -
Partie 6: Mesure des émissions conduites - Méthode de la sonde magnétique
Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz -
Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren
Oznámení o schválení
Evropská norma EN 61967-6:2002 Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 6: Měření emisí šířených vedením - Metoda s magnetickou sondou, která je úplným a nezměněným převzetím IEC 61967-6:2002, byla schválena Českým normalizačním institutem k přímému používání jako ČSN EN 61967-6 bez jakýchkoli modifikací. Evropská norma EN 61967-6:2002 má status české technické normy.
Uvedená evropská a původní mezinárodní norma jsou dostupné v Českém normalizačním institutu, oddělení informací, Praha 1, Biskupský dvůr 5.
Endorsement notice
The European Standard EN 61967-6:2002 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method which is the complete and unchanged adoption of the IEC 61967-6:2002, was approved by the Czech Standards Institute for direct use as the ČSN EN 61967-6 without any modification. The European Standard EN 61967-6:2002 has the status of a Czech Standard.
Both European and original International Standards are available at the Czech Standards Institute, Department of Information, Praha 1, Biskupský dvůr 5.
Anotace obsahu
Tato část IEC 61967 specifikuje metodu vyhodnocení vysokofrekvenčních proudů na vývodech (pinech) integrovaných obvodů prostřednictvím bezdotykového měření proudu pomocí miniaturní magnetické sondy. Tato metoda je způsobilá k měření vysokofrekvenčních proudů generovaných integrovaným obvodem v kmitočtovém rozsahu 0,15 MHz až 1 000 MHz. Tato metoda je vhodná k měření jednotlivých integrovaných obvodů, nebo sady čipů integrovaných obvodů na normalizované zkušební desce pro účely popisu a porovnání. Lze ji také použít k ohodnocení elektromagnetických parametrů integrovaného obvodu nebo skupiny integrovaných obvodů pro účely snížení emise při aktuálním použití na desce s plošnými spoji. Tato metoda se jmenuje „metoda s magnetickou sondou“. Přejímaná norma se skládá ze tří stran anglického textu normy evropské a 51 strany anglicko-francouzského textu mezinárodní normy IEC.
|
© Český normalizační institut, 2003 67092 |
-- Vynechaný text --
Zdroj: www.cni.cz