ČESKÁ TECHNICKÁ NORMA

ICS 31.080.99 Květen 2011

idt IEC 62258-1:2009

Semiconductor die products –
Part 1: Procurement and use

Produits de puces de semiconducteurs –
Partie 1: Approvisionnement et utilisation

Halbleiter-Chip-Erzeugnisse –
Teil 1: Beschaffung und Anwendung

Tato norma přejímá anglickou verzi evropské normy EN 62258-1:2010. Má stejný status jako oficiální verze.

This standard implements the English version of the European Standard EN 62258-1:2010. It has the same status as the official version.

Nahrazení předchozích norem

S účinností od 2013-10-01 se nahrazuje ČSN EN 62258-1 (35 8759) z července 2006, která do uvedeného data platí souběžně s touto normou.

Anotace obsahu

Tato norma byla vypracována pro usnadnění výroby, nákupu a používání polovodičových čipových výrobků. Norma definuje minimální požadavky na vstupní údaje, které jsou nutné pro popis daných výrobků a je určena jako pomoc pro návrh nákupu pro výrobce, kteří čipové výrobky používají. Norma zahrnuje specifické požadavky na údaje nutné pro popis geometrických vlastností čipu, jejich fyzikálních vlastností a možnosti propojení nutné pro jejich využití ve vývoji a při výrobě finálních produktů. Obsahem normy jsou také přílohy, slovník a seznam společných výrazů.

Národní předmluva

Upozornění na používání této normy

Souběžně s touto normou se může do 2013-10-01 používat dosud platná ČSN EN 62258-1 (35 8759) z července 2006, v souladu s předmluvou k EN 62258-1:2010.

Změny proti předchozím normám

Hlavní změny v tomto vydání byly zaneseny z důvodu dodržení konzistence napříč všemi částmi normy. Řazení jednotlivých podkapitol zejména v kapitole 6, bylo změněno s ohledem na logické posloupnosti. Text některých požadavků byl novelizován vzhledem k požadavkům na další informace v CLC/TR 62258-4, CLC/TR 62258-7 a CLC/TR 62258-8. Nové požadavky zahrnují informace týkající se schopnosti záměny vývodů a funkčních elementů (6.6.4) a citlivost na vlhkost pro částečně zapouzdřené součástky (8.8).

Informace o citovaných normativních dokumentech

IEC 60050 soubor zaveden v souboru ČSN IEC 60050 (33 0050) Mezinárodní elektrotechnický slovník

IEC 60191 soubor zaveden v souboru ČSN EN 60191 (35 8791) Rozměrová normalizace polovodičových součástek

IEC 60191-4:1999 zavedena v ČSN EN 60191-4:2000 (35 8791) Rozměrová normalizace polovodičových součástek – Část 4: Kódovací systém a roztřídění podle tvarů pro pouzdra polovodičových součástek (idt EN 60191-4:1999)

IEC 61360-1 zavedena v ČSN EN 61360-1 ed. 2 (01 3720) Normalizované typy datových prvků s klasifikačním schématem pro elektrické komponenty – Část 1: Definice – Zásady a metody

IEC 62258-2 zavedena v ČSN EN 62258-2 (35 8759) Polovodičové čipové výrobky – Část 2: Formáty pro výměnu dat

IEC/TR 62258-3 nezavedena

IEC/TR 62258-4 nezavedena

IEC 62258-5 zavedena v ČSN EN 62258-5 (35 8759) Polovodičové čipové výrobky – Část 5: Požadavky na informace vztahující se na elektrickou simulaci

IEC 62258-6 zavedena v ČSN EN 62258-6 (35 8759) Polovodičové čipové výrobky – Část 6: Požadavky na informace vztahující se na tepelnou simulaci

IEC/TR 62258-7 nezavedena

IEC/TR 62258-8 nezavedena

ISO 14644-1:1999 zavedena v ČSN EN ISO 14644-1:2000 (12 5301) Čisté prostory a příslušné řízené prostředí – Část 1: Klasifikace čistoty vzduchu (idt EN ISO 14644-1:1999)

Souvisící ČSN

ČSN EN 60749-26:2007 (35 8799) Polovodičové součástky – Mechanické a klimatické zkoušky – Část 26: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) – Model lidského těla (HBM)

ČSN EN 60749-27:2007 (35 8799) Polovodičové součástky – Mechanické a klimatické zkoušky – Část 27: Zkoušení citlivosti na elektrostatický výboj (ESD) – Strojový model (MM)

ČSN EN 61340-5-1 ed. 2:2008 (34 6440) Elektrostatika – Část 5-1: Ochrana elektronických součástek před elektrostatickými jevy – Všeobecné požadavky

ČSN EN ISO 9000 (01 0300) Systémy managementu kvality – Základní principy a slovník

Vypracování normy

Zpracovatel: VUT FEKT Brno, IČ 00216305

Technická normalizační komise: TNK 102 Součástky a materiály pro elektroniku a elektrotechniku

Pracovník Úřadu pro technickou normalizaci, metrologii a státní zkušebnictví: Ing. Jan Křivka

Konec náhledu - text dále pokračuje v placené verzi ČSN v anglickém jazyce.

Zdroj: www.cni.cz