ČESKÁ TECHNICKÁ NORMA

ICS 35.240.15 Červen 2013

Identification cards – Test methods –
Part 6: Proximity cards

Cartes d’identification – Méthodes d’essai –
Partie 6: Cartes de proximité

Tato norma je českou verzí mezinárodní normy ISO/IEC 10373- 6:2011 včetně změny
ISO/IEC 10373- 6:2011/Amd.1:2012. Překlad byl zajištěn Úřadem pro technickou normalizaci, metrologii a státní zkušebnictví. Má stejný status jako oficiální verze.

This standard is the Czech version of the European Standard ISO/IEC 10373- 6:2011 including the Amendment ISO/IEC 10373- 6:2011/Amd.1:2012. It was translated by the Czech Office for Standards, Metrology a Testing. It has the same status as the official version.

Nahrazení předchozích norem

Touto normou se nahrazuje ČSN ISO/IEC 10373- 6 (36 9737) ze srpna 2002.

Národní předmluva

Změny proti předchozí normě

ISO/IEC 10373- 6:2011 představuje technickou a ediční revizi vydání ISO/IEC 10373- 6:2001, včetně jejích změn Amd.1:2011, Amd.2:2004, Amd.3:2011, Amd.4:2011 a Amd.5:2011.

Informace o citovaných dokumentech

ISO/IEC 7810:2003 zavedena v ČSN ISO/IEC 7810:2004 (36 9725) Identifikační karty – Fyzikální charakteristiky)

ISO/IEC 14443-1:2008 zavedena v ČSN ISO/IEC 14443-1:2012 (36 9760) Identifikační karty – Bezkontaktní karty s integrovanými obvody – Karty s vazbou na blízko – Část 1: Fyzikální charakteristiky

ISO/IEC 14443-2:2010 zavedena v ČSN ISO/IEC 14443-2:2012 (36 9760) Identifikační karty – Bezkontaktní karty s integrovanými obvody – Karty s vazbou na blízko – Část 2: Radiofrekvenční výkonové a signálové rozhraní

ISO/IEC 14443-3:—^*) zavedena v ČSN ISO/IEC 14443-3:2012 (36 9760) Identifikační karty – Bezkontaktní karty s integrovanými obvody – Karty s vazbou na blízko – Část 3: Inicializace a antikolize

ISO/IEC 14443-4:2008 zavedena v ČSN ISO/IEC 14443-4:2012 (36 9760) Identifikační karty – Bezkontaktní karty s integrovanými obvody – Karty s vazbou na blízko – Část 4: Protokol přenosu

IEC 61000-4-2:2008 zavedena v ČSN EN 61000-4-2 ed. 2:2009 (33 3432) Elektromagnetická kompatibilita (EMC) –
Část 4-2: Zkušební a měřicí technika – Elektrostatický výboj – Zkouška odolnosti

Souvisící dokumenty

TNI 01 4109-3:2011 Nejistoty měření – Část 3: Pokyn pro vyjádření nejistoty měření (GUM:1995) (Pokyn ISO/IEC 98-3)

ČSN EN ISO/IEC 9646-1:1997 (36 9647) Informační technologie – Propojení otevřených systémů – Metodologie a základní struktura zkoušení shody – Část 1: Obecné pojmy

ČSN EN ISO/IEC 9646-2:1997 (36 9647) Informační technologie – Propojení otevřených systémů – Metodologie a základní struktura zkoušení shody – Část 2: Specifikace sestavy abstraktních testů

ČSN EN ISO/IEC 9646-4:1997 (36 9647) Informační technologie – Propojení otevřených systémů – Metodologie a základní struktura zkoušení shody – Část 4: Realizace zkoušky

ČSN EN ISO/IEC 9646-5:1997 (36 9647) Informační technologie – Propojení otevřených systémů – Metodologie a základní struktura zkoušení shody – Část 5: Požadavky na Testovací laboratoře a na zákazníky pro proces posuzování shody

ČSN EN ISO/IEC 9646-6:1997 (36 9647) Informační technologie – Propojení otevřených systémů – Metodologie a základní struktura zkoušení shody – Část 6: Specifikace zkoušky profilu protokolu

ČSN ISO/IEC 9646-7:1998 (36 9647) Informační technologie – Propojení otevřených systémů – Metodologie a základní struktura zkoušení shody – Část 7: Prohlášení o shodě implementace

Vysvětlivky k textu převzaté normy

Do textu normy je zapracována ISO/IEC 10373-6:2011/Amd.1:2012-05-01. Změny jsou v textu označeny svislou čarou.

Anglický termín „TEST“ se obvykle překládá:

„ZKOUŠENÍ“ – pro oblast ověřování elektrických, mechanických a klimatických parametrů;

„TESTOVÁNÍ“ – pro oblast ověřování prostředků informačních technologií (software i hardware).

První část souboru norem ČSN ISO/IEC 10373 se vztahovala na oblast „zkoušení“, a tedy společný název pro soubor ČSN ISO/IEC 10373 byl „Identifikační karty – Zkušební metody“. Další části souboru se více vztahují na oblast „testování“. Proto v celé části 6, včetně společného názvu souboru, používáme „Metody testování“ atp. 

Upozornění na národní poznámky

Do normy byla ke kapitole 2 doplněna vysvětlující národní poznámka.

Další informace

Anglický termín symbol se překládá českým slovem symbol, protože se zde používá ve významu nadřazeného termínu vůči podřazeným termínům: značky, znaky, označení atd., aby se všechny tyto termíny nemusely vypisovat.

Vypracování normy

Zpracovatel: Anna Juráková, Praha, IČ 61278386, Dr. Karel Jurák

Technická normalizační komise: TNK 42 Výměna dat

Pracovník Úřadu pro technickou normalizaci, metrologii a státní zkušebnictví: Ing. Petr Wallenfels

MEZINÁRODNÍ NORMA

Identifikační karty – Metody testování – ISO/IEC 10373- 6
Část 6: Karty s vazbou na blízko Druhé vydání
2011-01-15
+ Změna 1
2012-05-01

ICS 35.240.15

Obsah

Strana

1 Předmět normy 11

2 Normativní odkazy 11

3 Termíny, definice, symboly a zkratky termínů 11

3.1 Termíny a definice 11

3.2 Symboly a zkratky termínů 12

4 Standardní položky metod testování 14

4.1 Testovací prostředí 14

4.2 Aklimatizace před testováním 14

4.3 Standardní tolerance 14

4.4 Parazitní indukčnost 15

4.5 Celková nejistota měření 15

5 Aparatury a obvody pro testování parametrů uvedených v ISO/IEC 14443-1 a ISO/IEC 14443-2 15

5.1 Minimální požadavky na měřicí přístroje 15

5.1.1 Osciloskop 15

5.2 Kalibrační cívka 15

5.2.1 Rozměry desky s kalibrační cívkou 15

5.2.2 Tloušťka a materiál desky s kalibrační cívkou 16

5.2.3 Charakteristiky cívky 16

5.3 Testovací PCD sestava 16

5.3.1 Testovací PCD anténa 17

5.3.2 Snímací cívky 17

5.3.3 Testovací PCD sestava 17

5.4 Referenční PICC 18

5.4.1 Rozměry referenční PICC 18

5.4.2 Konstrukce referenční PICC 19

5.4.3 Ladění rezonančního kmitočtu referenční PICC 20

6 Testování parametrů uvedených v ISO/IEC 14443-1 21

6.1 Testy PCD 21

6.1.1 Střídavé magnetické pole 21

6.2 Testy PICC 21

6.2.1 Střídavé magnetické pole 21

6.2.2 Test statickou elektřinou 22

Strana

7 Testování parametrů uvedených v ISO/IEC 14443-2 23

7.1 Testy PCD 23

7.1.1 Intenzita pole PCD 23

7.1.4 Modulační index a časový průběh 24

7.1.5 Příjem zátěžové modulace 25

7.2 Testy PICC 26

7.2.1 Přenos PICC 26

7.2.2 Příjem PICC 26

7.2.3 Rezonanční kmitočet (informativní) 28

7.2.4 Maximální zátěžový efekt 28

8 Test parametrů uvedených v ISO/IEC 14443-3 a ISO/IEC 14443-4 29

8.1 Testy PCD 29

8.2 Testy PICC 29

Příloha A (normativní) Testovací PCD anténa 1 30

A.1 Předloha desky s testovací PCD anténou 1 včetně obvodu pro přizpůsobení impedance 30

A.2 Obvod pro přizpůsobení impedance 33

A.2.1 Obvod pro přizpůsobení impedance pro přenosovou rychlost fc/128 34

A.2.2 Obvod pro přizpůsobení impedance pro přenosové rychlosti fc/64, fc/32 a fc/16 34

A.3 Testovací PCD anténa 2 35

A.3.1 Rozvržené testovací PCD antény 2 včetně obvodu pro přizpůsobení impedance 35

A.3.2 Obvod pro přizpůsobení impedance 2 36

Příloha B (informativní) Ladění testovací PCD antény 37

Příloha C (normativní) Snímací cívka 39

C.1 Předlohy snímacích cívek 39

C.1.1 Předloha snímací cívky 1 39

C.1.2 Předloha snímací cívky 2 39

C.2 Sestava se snímacími cívkami 40

Příloha D (normativní) Referenční karty PICC 41

D.1 Předlohy cívek referenční PICC 1 41

D.2 Předlohy cívek referenční PICC 2 42

D.3 Předlohy cívek referenční PICC 3 43

D.4 Předlohy cívek referenční PICC 4 44

D.5 Předlohy cívek referenční PICC 5 45

D.6 Předlohy cívek referenční PICC 6 46

Příloha E (normativní) Prostředek pro analýzu modulačního indexu a časového průběhu 47

E.1 Přehled 47

E.2 Vzorkování 47

E.3 Filtrování 48

E.4 Generování obálky 48

E.5 Vyhlazení obálky 49

E.6 Stanovení modulačního indexu 49

E.7 Stanovení časování 49

E.8 Stanovení překmitu a podkmitu 49

Strana

E.9 Program prostředku pro analýzu modulačního indexu a časového průběhu (informativní) 49

E.9.1 structures.h 50

E.9.2 fftrm.h 51

E.9.3 fftrm.c 51

E.9.4 hilbert.h 54

E.9.5 hilbert.c 54

E.9.6 functs.c 61

Příloha F (informativní) 87

Příloha G (normativní) Další metody testování PICC 92

G.1 Testovací aparatura pro PICC a příslušenství 92

G.1.1 Emulace I/O protokolu 92

G.1.2 Generování časování I/O znaků v režimu příjmu 92

G.1.3 Měření a monitorování RF I/O protokolu 92

G.1.4 Analýza protokolu 92

G.1.5 Pole RFU 92

G.2 Vztah mezi metodami testování a požadavky základních norem 93

G.3 Metody testování pro inicializaci PICC typu A 94

G.3.1 Úvod 94

G.3.2 Scénář G.1: Výzva 94

G.3.3 Testování stavových přechodů PICC typu A 94

G.3.4 Scénář G.13: Ošetření antikolize typu A 110

G.3.5 Ošetření RATS 111

G.3.6 Ošetření žádosti PPS 111

G.3.7 Scénář G.20: Ošetření FSD 112

G.4 Metoda testování pro inicializaci PICC typu B 112

G.4.1 Úvod 112

G.4.2 Scénář G.21: Výzva 113

G.4.3 Scénář G.22: Příjem PICC 113

G.4.4 Testování stavových přechodů PICC typu B 114

G.4.5 Scénář G.28: Ošetření antikolize typu B 121

G.4.6 Ošetření ATTRIB 123

G.4.7 Scénář G.31: Ošetření maximální velikosti rámce 124

G.5 Metody testování pro logické operace PICC typu A nebo typu B 125

G.5.1 Úvod 125

G.5.2 Reakce PICC na scénáře ISO/IEC 14443-4 125

G.5.3 Ošetření detekce chyby kartou PICC 132

G.5.4 Reakce PICC na CID 133

G.5.5 Reakce PICC na NAD 135

G.6 Výsledky uvedené ve zprávě 136

Příloha H (normativní) Další metody pro testování PCD 139

H.1 Aparatura pro testování PCD a příslušenství 139

H.1.1 Metoda testování 139

H.1.2 Struktura aparatury pro testování PCD 139

H.1.3 Rozhraní aparatury pro testování PCD 140

H.1.4 Emulace I/O protokolu 140

Strana

H.1.5 Generování časování I/O znaků v režimu přenosu 140

H.1.6 Měření a monitorování RF I/O protokolu 140

H.1.7 Analýza protokolu 140

H.1.8 Aktivační procedura protokolu 140

H.1.9 Scénář 141

H.1.10 Chování UT, LT a PCD 141

H.1.11 Vztah mezi metodami testování a požadavky základních norem 142

H.2 Specifické metody testování pro typ A 143

H.2.1 Doba zpoždění rámce z PICC do PCD 143

H.2.2 Ochranný interval žádosti 143

H.2.3 Ošetření kolize bitů v průběhu ATQA 143

H.2.4 Ošetření antikolizní smyčky 144

H.2.5 Ošetření RATS a ATS 147

H.2.6 Ošetření odezvy na PPS 149

H.2.7 Mechanizmus volby velikosti rámce 150

H.2.8 Ošetření ochranného intervalu začátku rámce 151

H.2.9 Ošetření CID v průběhu aktivace PCD 152

H.3 Specifické metody testování pro typ B 153

H.3.1 Časování přenosu I/O 153

H.3.2 Mechanizmus volby velikosti rámce 154

H.3.3 Ošetření CID v průběhu aktivace zařízením PCD 154

H.4 Metoda testování pro logické operace PCD 156

H.4.1 Ošetření smyčky výzvy 156

H.4.2 Reakce PCD na žádost o prodloužení doby čekání 157

H.4.3 Detekce chyby a obnovení po chybě přenosu 159

H.4.4 Ošetření NAD v průběhu řetězení 166

H.5 Trvalé monitorování paketů vysílaných PCD 166

H.5.1 Pole RFU 166

H.5.2 Hodnoty RFU 166

H.5.3 R-blok 166

H.5.4 S-blok 166

H.5.5 PCB 166

H.5.6 Rámce inicializace pro typ A 166

H.5.7 Aparatura 167

H.5.8 Procedura 167

H.5.9 Zpráva o testu 167

H.6 Výsledky testů 167

Příloha I (normativní) Volba metod testování s velkou přenosovou rychlostí pro PCD 171

I.1 Aparatura 171

I.2 Procedura 171

I.2.1 Procedura pro typ A 171

I.2.2 Procedura pro typ B 176

Bibliografie 182 

© ISO/IEC 2011, 2012

Veškerá práva vyhrazena. Pokud není specifikováno jinak, nesmí být žádná část této publikace reprodukována nebo používána v jakékoliv formě nebo jakýmkoliv způsobem, elektronickým nebo mechanickým, včetně fotokopií a mikrofilmů, bez písemného svolení buď od organizace ISO na níže uvedené adrese, nebo od členské organizace ISO v zemi žadatele.

ISO copyright office

Case postale 56 · CH-1211 Geneva 20

Tel. + 41 22 749 01 11

Fax + 41 22 749 09 47

E-mail copyright@iso.org

Web www.iso.org

Published in Switzerland

Předmluva

ISO (Mezinárodní organizace pro normalizaci) a IEC (Mezinárodní elektrotechnická komise) tvoří specializovaný systém celosvětové normalizace. Národní orgány, které jsou členy ISO nebo IEC, se podílejí na vypracování mezinárodních norem prostřednictvím technických komisí ustavených příslušnými organizacemi pro jednotlivé obory technické činnosti. Technické komise ISO a IEC spolupracují v oborech společného zájmu. Práce se zúčastňují také další vládní a nevládní mezinárodní organizace, s nimiž ISO a IEC navázaly pracovní styk. V oblasti informační technologie zřídily ISO a IEC společnou technickou komisi ISO/IEC JTC 1.

Návrhy mezinárodních norem jsou vypracovávány v souladu s pravidly danými směrnicemi ISO/IEC, část 2.

Hlavním úkolem společné technické komise je vypracování mezinárodních norem. Návrhy mezinárodních norem přijaté společnou technickou komisí jsou rozesílány národním členům k hlasování. Vydání mezinárodní normy vyžaduje souhlas alespoň 75 % hlasujících národních orgánů.

Upozorňuje se na možnost, že některé prvky tohoto dokumentu mohou být předmětem patentových práv. ISO a IEC nelze činit odpovědnou za identifikaci jakéhokoliv nebo všech patentových práv.

ISO/IEC 10373-6 vypracovala společná technická komise ISO/IEC JTC 1 Informační technologie, subkomise SC 17 Karty a osobní identifikace.

Toto druhé vydání zrušuje a nahrazuje první vydání (ISO/IEC 10373-6:2001), které bylo technicky revidováno. Zahrnuje také změny ISO/IEC 10373-6:2001/Amd.1:2007, ISO/IEC 10373-6:2001/Amd.2:2003, ISO/IEC 10373-6:2001/Amd.3:2006, ISO/IEC 10373-6:2001/Amd.4:2006 a ISO/IEC 10373-6:2001/Amd.5:2007.

Změnu 1 k ISO/IEC 10303-6:2011 vypracovala společná technická komise ISO/IEC JTC 1 Informační technologie, subkomise SC 17 Karty a osobní identifikace.

ISO/IEC 10373 sestává z následujících částí, pod společným názvem Identifikační karty – Zkušební metody:

• Část 1: Zkoušky všeobecných charakteristik

• Část 2: Karty s magnetickými proužky

• Část 3: Karty s integrovanými obvody s kontakty a příslušná zařízení rozhraní

• Část 4: Karty s těsnou vazbou

• Část 5: Optické paměťové karty

• Část 6: Karty s vazbou na blízko

• Část 7: Karty s vazbou na dálku

• Část 8: USB-ICC

• Část 9: Karty s optickou pamětí – Metoda holografického záznamu

1 Předmět normy

ISO/IEC 10373 stanoví metody testování pro charakteristiky identifikačních karet podle ISO/IEC 7810. V každé metodě testování jsou křížové odkazy na jednu nebo více základních norem, což může být ISO/IEC 7810 nebo jedna nebo více doplňujících norem, které popisují technologie ukládání informací používané v aplikacích identifikačních karet.

POZNÁMKA 1 Kritéria pro přijetí nejsou částí ISO/IEC 10373, ale lze je nalézt ve výše zmíněných mezinárodních normách.

POZNÁMKA 2 Metody testování popsané v této části ISO/IEC 10373 jsou určeny, aby se prováděly samostatně. Pro danou kartu nebo předmět s vazbou na blízko, nebo zařízení pro vazbu na blízko se nepožaduje, aby prošly postupně všemi testy.

Tato část ISO/IEC 10373 stanoví metody testování, které jsou specifické pro karty nebo předměty s vazbou na blízko, nebo zařízení pro vazbu na blízko, stanovené v ISO/IEC 14443-1:2008, ISO/IEC 14443-2:2010, ISO/IEC 14443-3:— a ISO/IEC 14443-4:2008. ISO/IEC 10373-1 určuje metody testování, které jsou společné pro jednu nebo více technologií karet s integrovanými obvody; další části normy se zabývají testy specifickými pro jednotlivé technologie.

Konec náhledu - text dále pokračuje v placené verzi ČSN.  

Zdroj: www.cni.cz