ČESKÁ TECHNICKÁ NORMA

ICS 31.080.01 Duben 2015

idt IEC 60749-42:2014

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods –
Part 42: Temperature and humidity storage

Dispositifs à semiconducteurs – Méthodes d’essais mécaniques et climatiques –
Partie 42: Stockage de température et d’humidité

Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren –
Teil 42: Lagerung bei Wärme und Feuchte

Tato norma přejímá anglickou verzi evropské normy EN 60749-42:2014. Má stejný status jako oficiální verze.

This standard implements the English version of the European Standard EN 60749-42:2014. It has the same status as the official version.

Anotace obsahu

Tato norma určuje zkušební metodu na vyhodnocení odolnosti polovodičových součástek, které se provozují v prostředí vysoké teploty a vysoké vlhkosti.

Tato zkušební metoda se používá na vyhodnocení odolnosti proti korozi kovových připojení na čipech polovodičových součástek, které se nachází v plastových a jiných pouzdrech. Používá se také jako prostředek vyhodnocení zrychleného pronikání vlhkosti přes pasivační vrstvu a jako přípravná fáze pro různé druhy zkoušek.

Národní předmluva

Vypracování normy

Zpracovatel: VUT FEKT Brno, IČ 00216305, Doc. Ing. Josef Šandera, Ph.D.

Technická normalizační komise: TNK 102 Součástky a materiály pro elektroniku a elektrotechniku

Pracovník Úřadu pro technickou normalizaci, metrologii a státní zkušebnictví: Ing. Jan Křivka

Konec náhledu - text dále pokračuje v placené verzi ČSN v anglickém jazyce.

Zdroj: www.cni.cz